[发明专利]光谱分析设备、光谱分析方法以及光谱图显示的方法

说明书

本发明涉及光谱分析设备、光谱分析方法以及光谱图显示的方法。提供了一种光谱分析设备，包括处理单元，被配置为使用分析函数生成分析数据，在所述分析函数中，包括作为函数元素的线性函数和对数函数且强度值被设置为来自测量数据的变量，所述测量数据包括通过使用具有不同检测波长带的多个光接收元件检测来自测量目标对象的光而获取的光的强度值。

本申请是国际申请日为2012年9月12日、国际申请号为PCT/JP2012/005780、发明名称为“光谱分析设备、细颗粒测量设备以及用于光谱分析或光谱图显示的方法和程序”的PCT申请的中国国家阶段申请的分案申请，该中国国家阶段申请的进入国家阶段日为2014年3月6日，申请号为201280043375.5。

技术领域

本技术涉及光谱分析设备、细颗粒测量设备以及用于光谱分析或光谱图显示的方法和程序。更具体地，本技术涉及能够获得准确地反映测量目标对象的光学特性的光谱图的光谱分析设备等。

背景技术

流式细胞仪是通过对流过流动池的诸如细胞、珠子等的细颗粒照射光并检测从细颗粒发射的荧光、散射光等来光学测量细颗粒的特性的设备。

例如，当检测到细胞的荧光时，将具有适当波长和强度的激发光(诸如激光)照射到荧光燃料标记的细胞。通过透镜等将从荧光染料发射的荧光会聚，使用诸如过滤器或二向色镜的波长选择元件选择适当波长带的光，且使用诸如光电倍增管(PMT)的光接收元件检测所选择的光。此时，能够通过波长选择元件和光接收元件的多个组合同时检测和分析来自标记到细胞的多个荧光燃料的荧光。此外，还可以通过组合多个波长的激发光来增加可分析荧光染料的数量。

在相关技术中，流式细胞仪的分析数据由直方图或二维(2D)图显示。虽然线性轴或对数轴一般被用作表示直方图和2D图中的光的强度值的坐标轴，但是也已知使用具有线性轴和对数轴组合的特性的双指数轴的技术(见NPL 1)。在使用双指数轴作为坐标轴的直方图和2D图中，利用对数轴的特性显示宽动态范围是可能的，且同时根据线性轴的特性显示负数也是可能的。

在通过流式细胞仪进行的荧光检测中，除了使用波长选择元件(诸如过滤器)选择不连续波长带的多束光并测量每个波长带的光的强度的方法之外，还存在测量连续波长带中的光的强度作为荧光光谱的方法。在荧光光谱是可测量的光谱流式细胞仪中，使用光谱元件(诸如棱镜或光栅)光谱分离从细颗粒发射的荧光。使用其中布置了具有不同检测波长带的多个光接收元件的光接收元件阵列检测光谱分离的荧光。作为光接收元件阵列，使用PMT阵列或光电二极管阵列，在所述PMT阵列或光电二极管阵列中，诸如PMT或光电二极管的光接收元件被一维布置或以2D光接收元件(诸如电荷耦合器件(CCD)或互补金属氧化物半导体(CMOS))的多个独立的检测通道的阵列布置。

[引文列表]

[专利文献]

[PTL 1]

JP 2003-83894A

[非专利文献]

[NPL 1]

A New“Logicle”Display Method Avoids Deceptive Effects of LogarithmicScaling for Low Signals and Compensated Data.Cytometry Part A 69A:541-551,2006。

发明内容

[技术问题]

除了直方图和2D图，还可由光谱图显示光谱流式细胞仪中的分析数据。在光谱图中，在横轴上表示光接收元件的通道或检测波长，在垂直轴上表示光的强度值，且关于细颗粒的数量(计数事件或密度)的信息(总体信息)由色彩的灰度、色调等表示。根据光谱图，可以直观地识别细颗粒的荧光光谱和总体信息。