[发明专利]一种液晶模组缺陷检测后的复判分层方法

说明书

本发明公开一种液晶模组缺陷检测后的复判分层方法，包括如下步骤：根据预先定义的液晶层的物理位置，调节相机的聚焦点以获取液晶层的最佳成像物理位置，定义最佳成像物理位置为原点位置；通过相机检测缺陷是否存在于液晶层；根据预先获得的上偏光片距液晶层的距离及下偏光片距液晶层的距离，调节相机的聚焦点至上偏光片或下偏光片，以检测缺陷是否存在于上偏光片或下偏光片；根据缺陷是否存在，从而确定该缺陷的真实物理层级；根据上表面到液晶层的物理距离，调节相机的聚焦点至上表面，检测上表面是否有灰尘，从而判断是否为灰尘误判。本发明可以解决现有技术中自动检测设备中无法实现的缺陷分层问题，判断是否为检测时未滤除的表面灰尘的问题。

技术领域

本发明涉及液晶模组技术领域，特别是涉及一种液晶模组缺陷检测后的复判分层方法。

背景技术

LCD(Liquid Crystal Display)液晶屏典型组成由上至下依次为TP(TouchPanel，触摸屏)玻璃、上偏光片、彩色滤光片、液晶层、TFT(Thin Film Transistor，薄膜晶体管)基板、下偏光片以及背光源。随着LCD技术的发展，它以分辨率高、体积小、重量轻、无辐射、平板化和功耗低等特点，迅速成为显示市场的主角，从手机到便携式游戏机、从工业设备的人工操作平台到银行自助设备ATM(Automatic Teller Machine)等诸多领域，LCD无所不在。因此，对于LCD液晶屏的质量检测变得尤为重要。

LCD液晶屏的工艺流程及质量检测主要包括：面板切割、贴片、COG(chinponglass，将IC搭载在玻璃面板上)/FOG(film on glass，将FPC搭载在玻璃面板上)、点胶、组背光。其中主要的质量检测包括面板切割后、贴片后和组背光后的点灯检查和外观检查。

目前，现有技术中已经可以实现对各阶段自动点灯的质量检测，但是，现有技术中的自动检测装置无法实现检测后的缺陷的真实物理层以及是否为检测时未滤除的表面灰尘。尤其是在后工序贴片和背光组装中，由于工艺的组装过程中引入缺陷，针对各层都需要检测，且不同层的检测标准不一致，但不同缺陷在检测过程中的状态难以确定，因此对缺陷的精确层级定义在LCD检测设备中一直处于空白状态。

发明内容

本发明的目的是克服现有技术中的不足之处，提供一种液晶模组缺陷检测后的复判分层方法，以解决目前技术中自动检测设备中缺陷无法分层以及判断是否为检测时未滤除的表面灰尘的问题。

本发明的目的是通过以下技术方案来实现的：

一种液晶模组缺陷检测后的复判分层方法，通过相机对液晶模组进行分层检测，所述液晶模组包括依序排列的上偏光片、液晶层、下偏光片，并设定所述上偏光片远离所述液晶层的一面为上表面，包括如下步骤：

根据预先定义的所述液晶层的物理位置，调节所述相机的聚焦点以获取所述液晶层的最佳成像物理位置，定义所述最佳成像物理位置为原点位置，从所述原点位置往所述上偏光片一侧为正方向，从所述原点位置往所述下偏光片一侧为负方向；

通过所述相机对所述液晶层进行检测，以检测缺陷是否存在于所述液晶层；

根据预先获得的所述上偏光片距所述液晶层的物理距离及所述下偏光片距所述液晶层的物理距离，调节所述相机的聚焦点至所述上偏光片或所述下偏光片，以检测缺陷是否存在于所述上偏光片或所述下偏光片；

根据缺陷是否存在，从而确定该缺陷的真实物理层级；

根据所述上表面到所述液晶层的物理距离，调节所述相机的聚焦点至所述上表面，检测所述上表面是否有灰尘，从而判断是否为灰尘误判。

在其中一个实施例中，调节所述相机的聚焦点以获取所述液晶层的最佳成像物理位置包括：