[发明专利]IGBT简易测试装置及测试方法

说明书

技术领域

本发明属于检测装置技术领域，具体地说，是涉及一种用于检测IGBT器件是否损坏的测试装置及测试方法。

背景技术

IGBT（Insulated Gate Bipolar Transistor）绝缘栅双极型晶体管,是由BJT（双极型三极管）和MOS（绝缘栅型场效应管）组成的复合全控型电压驱动式功率半导体器件，兼具有MOSFET的高输入阻抗和GTR的低导通压降两方面优点，非常适合应用于直流电压在600V以上的变流系统中，例如交流电机、变频器、牵引传动装置等领域。

目前，海洋运输是国际物流中最主要的运输方式，国际贸易总运量中的2/3以上、中国进出口货运总量的约90%都是利用海上运输。而桥吊作为码头上用于进行装卸作业的起重机，是码头的心脏力量，桥吊作业能力决定着一个码头的货物吞吐能力。而IGBT是桥吊驱动器变频装置的核心功率器件，在桥吊变频器发生的故障中，IGBT损坏占有很大的比例。但是，IGBT损坏后，有的具有明显的损坏迹象，很容易辨识；而有的仅从外观无法辨别出好坏，从而给故障排查工作带来一定的困难，严重影响着码头的作业效率以及海洋货物运输的整体速度。因此，设计一款简单易用的IGBT测试装置就显得非常有必要。

发明内容

本发明的目的在于提供一种IGBT简易测试装置及测试方法，能够对IGBT器件是否出现故障实现快速、准确的检测。

为解决上述技术问题，本发明采用以下技术方案予以实现：

一方面，本发明提出了一种IGBT简易测试装置，包括栅极插孔、集电极插孔、发射极插孔、电源、指示灯、测试开关和试灯开关；其中，所述栅极插孔用于连通IGBT的栅极；所述集电极插孔用于连通IGBT的集电极；所述发射极插孔用于连通IGBT的发射极；所述电源的正极连通所述的集电极插孔，所述电源的负极连通所述的发射极插孔；所述指示灯串联在所述电源的正极与集电极插孔之间；所述测试开关连接在所述电源的正极与栅极插孔之间；所述试灯开关跨接在所述集电极插孔与发射极插孔之间。

进一步的，在所述IGBT简易测试装置中还设置有限流电阻，所述限流电阻与所述指示灯串联后，连接在所述电源的正极与集电极插孔之间。

优选的，所述电源可以选用大于等于6V的电池。

为了便于现场操作，在所述IGBT简易测试装置中还设置有外壳和三根探针；在所述外壳的壳体上布设所述的栅极插孔、集电极插孔和发射极插孔；所述三根探针外置于所述外壳，使用时，分别通过导线一一对应地插接在所述的栅极插孔、集电极插孔和发射极插孔中。利用三根探针接触待测IGBT的栅极、集电极和发射极，由此无需将待测IGBT从原设备上拆下，即可在现场完成IGBT的测试任务，方便快捷。

为了便于技术人员手持操作所述的IGBT简易测试装置，优选将所述栅极插孔、集电极插孔和发射极插孔布设在外壳的左侧，所述测试开关布设在外壳的右侧，所述指示灯布设在外壳的顶部，所述试灯开关布设在外壳的底部；所述电源布设在外壳的内部。

另一方面，本发明还基于所述IGBT简易测试装置提出了一种IGBT测试方法，其中，所述IGBT简易测试装置包括外壳、布设在外壳上的栅极插孔、集电极插孔和发射极插孔以及电源、指示灯、测试开关、试灯开关和三根探针；其中，所述栅极插孔用于连通IGBT的栅极；所述集电极插孔用于连通IGBT的集电极；所述发射极插孔用于连通IGBT的发射极；所述电源的正极连通所述的集电极插孔，所述电源的负极连通所述的发射极插孔；所述指示灯串联在所述电源的正极与集电极插孔之间；所述测试开关连接在所述电源的正极与栅极插孔之间；所述试灯开关跨接在所述集电极插孔与发射极插孔之间；所述三根探针外置于所述外壳，使用时，分别通过导线一一对应地插接在所述的栅极插孔、集电极插孔和发射极插孔中；所述IGBT测试方法包括指示灯测试过程：按下试灯开关，若指示灯发光，则抬起试灯开关，执行IGBT测试过程：利用插入到栅极插孔中的探针接触待测IGBT的栅极；利用插入到集电极插孔中的探针接触待测IGBT的集电极；利用插入到发射极插孔中的探针接触待测IGBT的发射极；若指示灯发光，则判定待测IGBT的集电极与发射极击穿，所述待测IGBT已损坏；若指示灯不发光，则按下测试开关，若指示灯发光，则判定所述待测IGBT无故障；若指示灯不发光，则判定所述待测IGBT已损坏。

进一步的，在所述指示灯测试过程中，若指示灯不发光，则判定指示灯损坏，在更换正常的指示灯后，执行所述的IGBT测试过程。