[发明专利]IGBT简易测试装置及测试方法

权利要求书

1.一种IGBT简易测试装置，其特征在于，包括：

栅极插孔，用于连通IGBT的栅极；

集电极插孔，用于连通IGBT的集电极；

发射极插孔，用于连通IGBT的发射极；

电源，其正极连通所述的集电极插孔，其负极连通所述的发射极插孔；

指示灯，其串联在所述电源的正极与集电极插孔之间；

测试开关，其连接在所述电源的正极与栅极插孔之间；

试灯开关，其跨接在所述集电极插孔与发射极插孔之间。

2.根据权利要求1所述的IGBT简易测试装置，其特征在于，还包括：

限流电阻，其与所述指示灯串联后，连接在所述电源的正极与集电极插孔之间。

3.根据权利要求1所述的IGBT简易测试装置，其特征在于，所述电源为大于等于6V的电池。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的IGBT简易测试装置，其特征在于，还包括：

外壳，其壳体上布设所述的栅极插孔、集电极插孔和发射极插孔；

三根探针，其外置所述外壳，使用时，分别通过导线一一对应地插接在所述的栅极插孔、集电极插孔和发射极插孔中。

5.根据权利要求4所述的IGBT简易测试装置，其特征在于，所述栅极插孔、集电极插孔和发射极插孔布设在外壳的左侧，所述测试开关布设在外壳的右侧，所述指示灯布设在外壳的顶部，所述试灯开关布设在外壳的底部；所述电源布设在外壳的内部。

6.一种基于权利要求4或5所述的IGBT简易测试装置的测试方法，其特征在于，包括：

指示灯测试过程：

按下试灯开关，若指示灯发光，则抬起试灯开关，执行IGBT测试过程；

IGBT测试过程：

利用插入到栅极插孔中的探针接触待测IGBT的栅极；

利用插入到集电极插孔中的探针接触待测IGBT的集电极；

利用插入到发射极插孔中的探针接触待测IGBT的发射极；

若指示灯发光，则判定待测IGBT的集电极与发射极击穿，所述待测IGBT已损坏；

若指示灯不发光，则按下测试开关，若指示灯发光，则判定所述待测IGBT无故障；若指示灯不发光，则判定所述待测IGBT已损坏。

7.根据权利要求6所述的测试方法，其特征在于，在所述指示灯测试过程中，若指示灯不发光，则判定指示灯损坏，在更换正常的指示灯后，执行所述的IGBT测试过程。