[发明专利]液晶显示装置以及光线检测方法

权利要求书

1.一种液晶显示装置的光线检测方法；所述液晶显示装置包括相对设置的阵列基板和对向基板，设于所述阵列基板和所述对向基板之间的液晶层，位于所述阵列基板面对所述对向基板的一侧的第一偏光片，位于所述对向基板背离所述阵列基板的一侧的第二偏光片，以及设于所述阵列基板上且位于所述第一偏光片入光侧的光电检测器；其特征在于，所述光线检测方法包括：

在第一电场状态下，利用液晶层控制环境光经过所述第二偏光片后无法穿过第一偏光片，使光电检测器获取背光中的杂散光照度；

在第二电场状态下，控制液晶层中的液晶分子偏转以使环境光依次穿过第二偏光片、对向基板、液晶层、第一偏光片而入射至所述光电检测器，所述光电检测器获取环境光照度和来自于背光中反射的杂散光照度；

比较两种电场状态下所述光电检测器获取的结果，得到所述环境光照度。

2.根据权利要求1所述的光线检测方法，其特征在于，所述光电检测器获取背光中的杂散光照度具体包括：

所述第一偏光片的透过轴与所述第二偏光片的透过轴相互平行；

在垂直于所述阵列基板表面的方向上，控制所述液晶层中的液晶分子的长轴方向逐渐扭曲并从所述第一偏光片到所述对向基板旋转90°。

3.根据权利要求1所述的光线检测方法，其特征在于，所述光电检测器获取背光中的杂散光照度具体包括；

所述第一偏光片的透过轴与所述第二偏光片的透过轴相互垂直；

控制液晶层中的液晶分子的初始长轴方向垂直于所述第一偏光片的透过轴或者平行于所述第一偏光片的透过轴。

4.根据权利要求1所述的光线检测方法，其特征在于，所述光线检测方法还包括：

采用以下公式根据所述液晶显示装置中任意亚像素的实际显示灰阶、最大显示灰阶、以及所述环境光照度获取实际环境光照度；其中，所述环境光照度为所述光电检测器检测到的环境光照度，所述实际环境光照度指环境光入射所述液晶显示装置之前的照度；

E＝Eal/(GL/GLmax)

其中，GL表示所述亚像素的实际显示灰阶，Eal表示所述光电检测器检测到的环境光照度，GLmax表示液晶显示装置的最大显示灰阶。