[发明专利]一种光电一体式测试系统和光电测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及光电测试技术领域，更具体的涉及一种光电一体式测试系统和光电测试方法。

背景技术

近年来，随着科技的不断发展，光纤已进入各应用领域。光纤的分类主要是从工作波长、折射率分布、传输模式、原材料和制造方法进行分类：工作波长：紫外光纤、可观光纤、近红外光纤、红外光纤；折射率分布：阶跃型光纤、近阶跃型光纤、渐变型光纤、其它(如三角型、W型、凹陷型等)；传输模式：单模光纤(含偏振保持光纤、非偏振保持光纤)、多模光纤；原材料：石英光纤、多成分玻璃光纤、塑料光纤、复合材料光纤、红外材料等；制造方法：预塑有汽相轴向沉积、化学汽相沉积等，拉丝法有管律法和双坩锅法等。光纤的应用主要包括：光纤通信和光纤传感，这都需要研究不同光纤的特性从而将其应用于合适的领域，在研究光纤特性时则需要构建光电测试系统以研究其光学特性和光信号的电学表现特性。

由于不同光纤的基本结构是相同的，因此在研究光纤特性时，其测试方法基本相同，即光源通过光纤后探测光信号和光转换后的电信号。但是，入射到光纤端面的光并不能全部被光纤所传输，只是在某个角度范围内的入射光才可以，因此，通常需要调节光源相对光纤端面的位置，然而，目前准确且可重复再现的调节光源和光纤端面的相对位置是比较困难的。

综上所述，现有技术中的光纤光电测试系统，存在调节光源和光纤端面的相对位置困难的问题。

发明内容

本发明实施例提供一种光电一体式测试系统和光电测试方法，用以解决现有技术中存在调节光源和光纤端面的相对位置困难的问题。

本发明实施例提供一种光电一体式测试系统，包括：测试台、光源支撑台、光纤支撑台、光斑放大显示屏、光电探测台、光电处理电路板和测试组件；

所述光源支撑台设置在所述测试台顶面上；所述光源支撑台上设置有第一滑轨，且所述第一滑轨上沿滑动方向设置有刻度线；所述第一滑轨上设置有第一升降滑台，所述第一升降滑台上设置有带刻度的第一升降旋转盘，以及所述第一升降滑台上设置有第一移动滑炳；所述第一升降滑台上固定有光源；

所述光纤支撑台设置在所述测试台顶面上；所述光纤支撑台的顶面上设置有多个不同半径的凹槽；所述凹槽内放置有光纤，所述光源的发射光中心线与所述光纤支撑台前端面面垂直，以及所述光源的发射光中心线高度与多个不同半径的所述凹槽中的中间凹槽位置对应；

所述光斑放大显示屏可拆卸设置在所述光纤支撑台后端面处，所述光纤支撑台的后端面位于所述光斑放大显示屏中心位置，以及所述光斑放大显示屏上设置有带刻度的网格；

所述光电探测台设置在所述光纤支撑台后端面处；所述光电探测台上设置有第二滑轨，且所述第二滑轨上沿滑动方向设置有刻度线；所述第二滑轨上设置有第二升降滑台，所述第二升降滑台上设置有带刻度的第二升降旋转盘，以及所述第二升降滑台上设置有第一移动滑炳；所述第二升降滑台上固定有光电探测器；

所述光电处理电路板和所述测试组件均嵌设在所述测试台顶面上；所述光电处理电路板与所述光电探测器电连接；所述测试组件包括：电流电压测试组件、信号发生组件、示波器组件和直流电源组件。

较佳地，所述光源采用激光光源。

较佳地，所述第一滑轨的中心为零刻度线，所述第一滑轨零刻度线的一侧为正数，以及所述第一滑轨零刻度线的另一侧为负数；所述第二滑轨的中心为零刻度线，所述第二滑轨零刻度线的一侧为正数，以及所述第二滑轨零刻度线的另一侧为负数。

较佳地，所述光纤通过胶带粘接在所述凹槽内。

较佳地，所述光电处理电路板，包括：光电转换电路、滤波放大电路和信号处理电路。

本发明实施例提供一种光电测试方法，包括：

将光纤放置在与光纤尺寸最匹配的凹槽内；

通过第一移动滑炳调节第一升降滑台的水平位置，以及通过第一升降旋转盘调节第一升降滑台的高度，使光源的入射光中心线与光纤前端面位置对应；并且通过刻度线记录第一升降滑台的位置；

通过带刻度网格的光斑放大显示屏观察出射光光斑；并且记录光斑的结构、尺寸和位置；

去掉光斑放大显示屏，通过第二移动滑炳调节第二升降滑台的水平位置，以及通过第二升降旋转盘调节第二升降滑台的高度，使光纤出射光中心线与光电探测器后端面位置对应；并且通过刻度线记录第而升降滑台的位置；

通过光电探测器接收光纤出射光信号，通过光电处理电路板对光信号进行光电处理，以及通过测试组件对光信号转换后的电信号进行测试。

本发明实施例中，提供一种光电一体式测试系统和光电测试方法，与现有技术相比，其有益效果如下：