[发明专利]一种光电一体式测试系统和光电测试方法

权利要求书

1.一种光电一体式测试系统，其特征在于，包括：测试台(1)、光源支撑台(2)、光纤支撑台(3)、光斑放大显示屏(4)、光电探测台(5)、光电处理电路板(6)和测试组件(7)；

所述光源支撑台(2)设置在所述测试台(1)顶面上；所述光源支撑台(2)上设置有第一滑轨(21)，且所述第一滑轨(21)上沿滑动方向设置有刻度线；所述第一滑轨(21)上设置有第一升降滑台(22)，所述第一升降滑台(22)上设置有带刻度的第一升降旋转盘(221)，以及所述第一升降滑台(22)上设置有第一移动滑炳(211)；所述第一升降滑台(22)上固定有光源；

所述光纤支撑台(3)设置在所述测试台(1)顶面上；所述光纤支撑台(3)的顶面上设置有多个不同半径的凹槽(31)；所述凹槽(31)内放置有光纤，所述光源的发射光中心线与所述光纤支撑台(3)前端面面垂直，以及所述光源的发射光中心线高度与多个不同半径的所述凹槽(31)中的中间凹槽(31)位置对应；

所述光斑放大显示屏(4)可拆卸设置在所述光纤支撑台(3)后端面处，所述光纤支撑台(3)的后端面位于所述光斑放大显示屏(4)中心位置，以及所述光斑放大显示屏(4)上设置有带刻度的网格；

所述光电探测台(5)设置在所述光纤支撑台(3)后端面处；所述光电探测台(5)上设置有第二滑轨(51)，且所述第二滑轨(51)上沿滑动方向设置有刻度线；所述第二滑轨(51)上设置有第二升降滑台(52)，所述第二升降滑台(52)上设置有带刻度的第二升降旋转盘(521)，以及所述第二升降滑台(52)上设置有第一移动滑炳(511)；所述第二升降滑台(52)上固定有光电探测器；

所述光电处理电路板(6)和所述测试组件(7)均嵌设在所述测试台(1)顶面上；所述光电处理电路板(6)与所述光电探测器电连接；所述测试组件(7)包括：电流电压测试组件、信号发生组件、示波器组件和直流电源组件。

2.如权利要求1所述的光电一体式测试系统，其特征在于，所述光源(1)采用激光光源。

3.如权利要求1所述的光电一体式测试系统，其特征在于，所述第一滑轨(21)的中心为零刻度线，所述第一滑轨(21)零刻度线的一侧为正数，以及所述第一滑轨(21)零刻度线的另一侧为负数；所述第二滑轨(51)的中心为零刻度线，所述第二滑轨(51)零刻度线的一侧为正数，以及所述第二滑轨(51)零刻度线的另一侧为负数。

4.如权利要求1所述的光电一体式测试系统，其特征在于，所述光纤通过胶带粘接在所述凹槽(31)内。

5.如权利要求1所述的光电一体式测试系统，其特征在于，所述光电处理电路板(6)，包括：光电转换电路、滤波放大电路和信号处理电路。

6.一种光电测试方法，其特征在于，包括：

将光纤放置在与光纤尺寸最匹配的凹槽内；

通过第一移动滑炳调节第一升降滑台的水平位置，以及通过第一升降旋转盘调节第一升降滑台的高度，使光源的入射光中心线与光纤前端面位置对应；并且通过刻度线记录第一升降滑台的位置；

通过带刻度网格的光斑放大显示屏观察出射光光斑；并且记录光斑的结构、尺寸和位置；

去掉光斑放大显示屏，通过第二移动滑炳调节第二升降滑台的水平位置，以及通过第二升降旋转盘调节第二升降滑台的高度，使光纤出射光中心线与光电探测器后端面位置对应；并且通过刻度线记录第而升降滑台的位置；

通过光电探测器接收光纤出射光信号，通过光电处理电路板对光信号进行光电处理，以及通过测试组件对光信号转换后的电信号进行测试。