[发明专利]用于处理从非易失性存储器阵列检索的状态置信度数据的方法和设备

说明书

一种设备可包括将从非易失性存储器检索数据的控制器以及可在控制器上操作以在包括许多感测条件的第一组感测条件下读取非易失性存储器的存储器存储单元的纠错模块。该纠错模块进一步可操作用于设定已编码输出中的第一组位，该第一组位包括将指示存储器存储单元的逻辑状态的逻辑状态位和将基于第一组感测条件下的读取结果而指示逻辑状态位的准确度的已编码输出中的一个或多个附加位，该第一组感测条件包括比第一组位更大的数目。公开了其他实施例并要求保护。

背景技术

本案是申请号：201280072014.3，发明名称为：用于处理从非易失性存储器阵列检索的状态置信度数据的方法和设备的分案申请。随着存储器件中的存储单元尺寸缩小至较小的尺寸，数据存储的完整性受到挑战。特别地，诸如NAND闪速存储器之类的非易失性存储器件中的原始位出错率已被观察到随着减小的存储单元尺寸而增加。NAND闪速架构被结构化成使得存储器更多地像块器件被访问，该块器件包括硬盘或存储卡，其中，块可包含多个页面。NAND技术依赖于纠错码（ECC）过程来补偿在正常器件操作期间可自发地出故障的位。

为了实现可容忍位出错率，通常在系统层级采用纠错引擎。在新生代的NAND产品中已采用的最常见ECC使用所谓的BCH代码（缩写是从发明人的姓名Bose、Ray-Chaudhuri和Hocquenghem导出的）。然而，BCH代码可能不能输送随着存储器存储单元尺寸继续调整至更小尺寸而在未来几代NAND产品中可能要求的纠错能力。

另一方面，诸如低密度奇偶校验（LDPC）之类的错误代码提供更大的能力，但是要求NAND存储器以与常规用户数据不同的方式提供数据。不同于BCH方法，其使用“硬解码”，包括LDPC的某些代码启用“软解码”，其中，除每个位值之外，解码器还能够使用其他数据来估计位的可靠性。软解码相比于硬解码而言能够提供显著的修正能力增益，因为解码器知道哪些位更有可能翻转且可以在其修正算法中使用此信息。特别地，LPDC程序要求提供状态置信度数据。状态置信度数据指的是反映数据的可靠性以指示存储器存储单元的状态的数据。在采用LDPC方案的纠错方法中，ECC引擎可将状态置信度信息转换成常规用户数据。

为了实现用于诸如NAND存储器件之类的非易失性存储器件的状态置信度数据的高效生成，目前方案可能要求修改。相应地，可能需要改善的技术和设备以解决这些及其他问题。

附图说明

图1描述了系统实施例的框图。

图2描述了另一系统实施例的框图。

图3描述了另一系统实施例的框图。

图4描述了另一系统实施例的框图。

图5描述了根据本实施例的情形。

图6a—6c描述了替换示例性布置。

图7描述了采用图6a的布置的另一情形。

图8a—8c描述了根据本实施例的另一情形。

图9描述了示例性实施例的操作。

图10呈现示例性第一逻辑流程。

图11描述了示例性第二逻辑流程。

图12描述了示例性第三逻辑流程。

图13描述了示例性第四逻辑流程。

图14描述了示例性第五逻辑流程。

图15是示例性系统实施例的图。

具体实施方式

各种实施例涉及到用以读取并修正存储在非易失性存储器中的数据的新型系统、设备以及方法。特别地，本实施例的方法和设备可处理存储数据以确定数据错误的可能性。各种实施例针对状态置信度数据的生成和该数据的处理，使得可应用更准确且高效的纠错。