[发明专利]一种被动式太赫兹人体安检仪的性能测试方法和装置有效

专利信息
申请号: 201710539312.3 申请日: 2017-07-04
公开(公告)号: CN107515431B 公开(公告)日: 2019-07-23
发明(设计)人: 何君;高翔;何郁松;赵光贞;王卓 申请(专利权)人: 北京航天易联科技发展有限公司
主分类号: G01V13/00 分类号: G01V13/00
代理公司: 北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319 代理人: 莎日娜
地址: 100176 北京市大兴区北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 图像信息 测试块 待测对象 目标参数 方法和装置 背景底板 人体安检 性能测试 安检仪 被动式 成像 分辨率类型 空间分辨率 对象扫描 范围类型 分布参数 分布信息 属性参数 属性信息 图像 测试 分析
【说明书】:

发明实施例提供了一种被动式太赫兹人体安检仪的性能测试方法和装置,所述方法包括:选取一种性能测试的类型,并依据类型确定对应的待测对象,待测对象包括背景底板和位于背景底板上的至少一个测试块;从安检仪中获取待测对象的图像信息,图像信息是由安检仪对待测对象扫描成像生成的,所述图像信息包括:图像、测试块分布信息和测试块属性信息;依据所述图像信息,获取类型对应的目标参数,目标参数至少包括以下一种:测试块的分布参数和测试块的属性参数;依据目标参数确定对应的性能值;其中,类型包括以下至少一种:成像范围类型、空间分辨率类型和材料分辨率类型;从而通过对不同类型的待测对象的图像信息的分析,确定对应的性能值。

技术领域

本发明涉及人体成像技术领域,特别是涉及一种被动式太赫兹人体安检仪的性能测试方法和一种被动式太赫兹人体安检仪的性能测试装置。

背景技术

近些年来,越来越多的公共场合(如地铁站、火车站、机场等等)配置各种安检设备(金属探测安检门、手持式金属探测器、X射线箱包安检仪),以保障人身安全;而传统的光学、红外、X射线以及金属探测的安检设备不能检测一些潜在的隐匿物品,因此采用传统的安检设备依然存在安全隐患。

太赫兹(Tera Hertz,THz)波以其强穿透能力和低辐射的性能,被应用至人体安检设备中,即THz人体安检仪。THz人体安检仪包括两种成像方法:主动成像和被动成像,由于被动成像不需要发射源,且不会暴露个人隐私,因此,THz人体安检仪多采用被动成像的方法。其中,可通过多个性能的指标判断被动式THz人体安检仪的性能的高低,如成像范围、空间分辨率和材料分辨率;因此,确定被动式THz人体安检仪的各项性能对应的极限值显得尤为重要。

发明内容

本发明实施例所要解决的技术问题是提供一种被动式太赫兹人体安检仪的性能测试方法,以确定安检仪各项性能对应的性能值。

相应的,本发明实施例还提供了一种被动式太赫兹人体安检仪的性能测试装置,用以保证上述方法的实现及应用。

为了解决上述问题,本发明公开了一种被动式太赫兹人体安检仪的性能测试方法,具体包括:选取一种性能测试的类型,并依据所述类型确定对应的待测对象,所述待测对象包括背景底板和位于背景底板上的至少一个测试块;从所述安检仪中获取所述待测对象的图像信息,所述图像信息是由所述安检仪对所述待测对象扫描成像生成的,所述图像信息包括:图像、测试块分布信息和测试块属性信息;依据所述图像信息,获取所述类型对应的目标参数,所述目标参数至少包括以下一种:测试块的分布参数和测试块的属性参数;依据所述目标参数确定对应的性能值;其中,所述类型包括以下至少一种:成像范围类型、空间分辨率类型和材料分辨率类型。

本发明实施例还公开一种被动式太赫兹人体安检仪的性能测试装置,具体包括:选取模块,用于选取一种性能测试的类型,并依据所述类型确定对应的待测对象,所述待测对象包括背景底板和位于背景底板上的至少一个测试块,所述类型包括以下至少一种:成像范围类型、空间分辨率类型和材料分辨率类型;信息获取模块,用于从所述安检仪中获取所述待测对象的图像信息,所述图像信息是由所述安检仪对所述待测对象扫描成像生成的,所述图像信息包括:图像、测试块分布信息和测试块属性信息;参数获取模块,用于依据所述图像信息,获取所述类型对应的目标参数,所述目标参数至少包括以下一种:测试块的分布参数和测试块的属性参数;确定模块,用于依据所述目标参数确定对应的性能值。

与现有技术相比,本发明实施例包括以下优点:

本发明实施例可对被动式太赫兹人体安检仪的多种性能类型进行测试,其中,所述类型包括以下至少一种:成像范围类型、空间分辨率类型和材料分辨率类型;在选定一种性能测试的类型后,依据所述类型,确定至少一个由背景底板和位于背景底板上的测试块组成的待测对象;在安检仪对所述待测对象扫描成像后,从所述安检仪中获取所述待测对应的图像信息;再依据所述图像信息,获取所述类型对应的目标参数,然后依据所述目标参数确定对应的性能值;进而通过对不同类型的待测对象的图像信息的分析,确定对应的性能值。

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