[发明专利]一种数据检测方法及数据检测装置

说明书

本申请提供了一种数据检测方法及数据检测装置，使用至少两组具有相位差的采样时钟对输入数据进行采样，确保一定能检测到输入数据的数据边沿，从而确定最佳的采样相位窗口。本申请实施例方法包括：当芯片读取外部设备的数据时，使用至少两组采样时钟对接口控制器的输入数据进行采样，得到采样数据集，至少两组采样时钟中任意两组采样时钟之间具有相位差；根据采样数据集确定输入数据的数据边沿；根据数据边沿确定目标采样相位窗口。

技术领域

本申请涉及计算机领域，尤其涉及一种数据检测方法及数据检测装置。

背景技术

在现有的芯片架构中，具有安全数字(Security Digtal，SD)卡和内置存储卡(Embedded Multi Media Card，eMMC)等，SD卡和eMMC是属于芯片的外部设备和存储接口，可用做于芯片系统的启动和存储。

在芯片读取SD卡或者eMMC等外部设备的数据时，为了保证读取的数据的正确性，在读数据方向需要做读数据的调整。因此，在芯片每次的读数据过程中都需要进行数据检测，一种数据检测方法为：芯片读取外部设备的数据时，通过采用多个不同相位的时钟采样芯片外设接口的数据，得到多个采样数据，将多个采样数据与芯片得到的读取数据进行对比，判断哪些采样数据是错误的，从而确定最佳的采样相位窗口。

以上现有的数据检测方法中，最佳的采样相位窗口的确定依赖于采样时钟相位的精度，在数据窗口很大的时候，即使无限去增加采样时钟相位的精度，也存在无法找到正确和错误的交界的数据位置的情况，导致存在无法检测到读取数据错误的情况。

发明内容

本申请提供了一种数据检测方法及数据检测装置，使用至少两组具有相位差的采样时钟对输入数据进行采样，确保一定能检测到输入数据的数据边沿，从而确定最佳的采样相位窗口。

本申请的第一方面提供一种数据检测方法，应用于芯片的外围接口系统，所述芯片的外围接口系统包括接口控制器及外部设备，所述数据检测方法包括：

当所述芯片读取所述外部设备的数据时，使用至少两组采样时钟对所述接口控制器的输入数据进行采样，得到采样数据集，所述至少两组采样时钟中任意两组采样时钟之间具有相位差；

根据所述采样数据集确定所述输入数据的数据边沿；

根据所述数据边沿确定目标采样相位窗口。

芯片的外围接口系统中包括接口控制器及外部设备，外部设备包括SD卡、eMMC及SDIO卡等等，接口控制器用于控制芯片结构中的多个外设接口，外设接口包括SDIO接口和eMMC接口等，芯片与外部设备之间的数据和指令交互都需要通过接口控制器来实现，在芯片读取外部设备的数据时，为了保证读取的数据的正确性，需要在接口控制器的输入端的数据进行采样判断，而最佳的采样相位窗口的确定就需要通过数据检测装置来实现，数据检测装置使用至少两组采样时钟对接口控制器的输入数据进行采样，得到采样数据集，由于至少两组采样时钟中任意两组采样时钟之间是具有相位差的，那么必然能够采样到输入数据的数据跳变点，对采样数据集进行数据分析后，就能确定输入数据的数据边沿，在已知数据边沿的情况下，根据数据边沿就能确定目标采样相位窗口，目标采样相位窗口就是最佳的采样相位窗口。与现有的数据检测方法相比，使用至少两组具有相位差的采样时钟对输入数据进行采样，确保一定能检测到输入数据的数据边沿，从而可以确定最佳的采样相位窗口。

结合本申请第一方面，本申请第一方面第一实施方式中，采样时钟为N组，N为大于1的整数，每一组采样时钟的采样点数量为M个，M为大于0的整数，

所述使用至少两组采样时钟对所述接口控制器的输入数据进行采样，得到采样数据集，包括：

使用N组采样时钟的每一组采样时钟分别对所述接口控制器的输入数据进行采样，得到N组采样数据，每一组采样数据具有M个采样值；