[发明专利]一种数据检测方法及数据检测装置有效

专利信息
申请号: 201710527455.2 申请日: 2017-06-30
公开(公告)号: CN109213703B 公开(公告)日: 2021-12-14
发明(设计)人: 张秀宇 申请(专利权)人: 华为技术有限公司
主分类号: G06F13/16 分类号: G06F13/16
代理公司: 深圳市深佳知识产权代理事务所(普通合伙) 44285 代理人: 王仲凯
地址: 518129 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 数据 检测 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种数据检测方法,其特征在于,应用于芯片的外围接口系统,所述芯片的外围接口系统包括接口控制器及外部设备,所述数据检测方法包括:

当所述芯片读取所述外部设备的数据时,使用至少两组采样时钟对所述接口控制器的输入数据进行采样,得到采样数据集,所述至少两组采样时钟中任意两组采样时钟之间具有相位差,所述采样数据集包括两组采样数据,所述至少两组采样时钟中的每组采样时钟采样所述输入数据得到一组采样数据,每组采样数据包括多个采样点;

根据所述采样数据集中的任意两个相邻采样点的采样值的关系确定所述输入数据的数据边沿;

根据所述数据边沿确定目标采样相位窗口。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,采样时钟为N组,N为大于1的整数,每一组采样时钟的采样点数量为M个,M为大于0的整数,

所述使用至少两组采样时钟对所述接口控制器的输入数据进行采样,得到采样数据集,包括:

使用N组采样时钟的每一组采样时钟分别对所述接口控制器的输入数据进行采样,得到N组采样数据,每一组采样数据具有M个采样值;

根据所述N组采样时钟中任意两组采样时钟之间的相位差,对所述N组采样数据的N*M个采样值进行相位前后排序,得到采样数据集。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述根据所述采样数据集中的任意两个相邻采样点的采样值的关系确定所述输入数据的数据边沿包括:

比较所述采样数据集中任意两个相邻采样值是否相同;

若两个相邻采样值相同,则确定不是所述输入数据的数据边沿;

若两个相邻采样值不相同,则确定是所述输入数据的数据边沿。

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述根据所述数据边沿确定目标采样相位窗口包括:

根据所述数据边沿对应的两个相邻采样值,确定所述两个相邻采样值对应的两个采样点;

根据所述两个采样点的相位值,确定目标采样相位窗口。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的方法,其特征在于,所述使用至少两组采样时钟对所述接口控制器的输入数据进行采样之前,还包括:

生成至少两组采样时钟,任意两组采样时钟之间具有相位差,每组采样时钟的采样点数量相同。

6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述任意两组采样时钟之间具有的相位差为固定相位差。

7.一种数据检测装置,其特征在于,应用于芯片的外围接口系统,所述芯片的外围接口系统包括接口控制器及外部设备,所述数据检测装置包括:

数据采集模块,用于当所述芯片读取所述外部设备的数据时,使用至少两组采样时钟对所述接口控制器的输入数据进行采样,得到采样数据集,所述至少两组采样时钟中任意两组采样时钟之间具有相位差,每一组采样时钟的采样点数量相同,所述采样数据集包括两组采样数据,所述至少两组采样时钟中的每组采样时钟采样所述输入数据得到一组采样数据,每组采样数据包括多个采样点;

数据处理模块,用于根据所述采样数据集中的任意两个相邻采样点的采样值的关系确定所述输入数据的数据边沿;

所述数据处理模块,还用于根据所述数据边沿确定目标采样相位窗口。

8.根据权利要求7所述的装置,其特征在于,采样时钟为N组,N为大于1的整数,每一组采样时钟的采样点数量为M个,M为大于0的整数,

所述数据采集模块,还用于使用N组采样时钟的每一组采样时钟分别对所述接口控制器的输入数据进行采样,得到N组采样数据,每一组采样数据具有M个采样值;

所述数据采集模块,还用于根据所述N组采样时钟中任意两组采样时钟之间的相位差,对所述N组采样数据的N*M个采样值进行相位前后排序,得到采样数据集。

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