[发明专利]一种用于荧光仪器校准测量的标准样片及其制备方法有效
申请号: | 201710458313.5 | 申请日: | 2017-06-16 |
公开(公告)号: | CN107271415B | 公开(公告)日: | 2019-11-29 |
发明(设计)人: | 钟源;李劲劲;张玲;王晶;钟青;王雪深;傅博强;王兰若 | 申请(专利权)人: | 中国计量科学研究院 |
主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64 |
代理公司: | 11257 北京正理专利代理有限公司 | 代理人: | 付生辉<国际申请>=<国际公布>=<进入 |
地址: | 100013 *** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 荧光 仪器 校准 测量 标准 样片 及其 制备 方法 | ||
本发明公开一种用于荧光仪器校准测量的标准样片,包括基板及荧光薄膜,该荧光薄膜设置于基板上且包括具有不同荧光强度的多个荧光强度区域,每个荧光强度区域具有特定的荧光染料填充占空比。本发明还公开一种用于荧光仪器校准测量的标准样片的制备方法。本发明的用于荧光仪器校准测量的标准样片及其制作方法,通过利用微纳加工技术,精确控制调整荧光薄膜表面上每个像素对应区域内的荧光染料填充占空比,在一个标准样片上获得多个厚度相同的荧光强度区域,且每个荧光强度区域具有精准可控的特定的荧光染料填充占空比,使获得复杂图案的小尺度图形成为可能。
技术领域
本发明涉及荧光仪器校准测量。更具体地,涉及一种用于荧光仪器校准测量的标准样片及其制备方法。
背景技术
随着生物技术的不断发展,荧光检测技术(Fluorescent Detection)由于其具有荧光定量、结果稳定、灵敏度高、封闭操作、安全便捷等特点,已经广泛地应用于生命科学、医药卫生、食品安全、药理学及生物化学分析等领域。荧光检测是一种自然发光反应,通过荧光素酶与ATP进行反应,利用专用设备对光照度进行测量并以数字形式予以表示,迅速得到反应结果,可用于检测人体细胞、细菌、霉菌和食物残渣等。
传统的荧光仪器通常采用激光、氙灯、高压/低压汞灯等光源作为激发光源,通过检测荧光物质受激发后发射光的光谱及信号强弱来进行分析。不同荧光仪器的光源、光路、检测系统的设计与集成各不相同,即使是同一仪器的光源、光路及检测系统也可能因为老化、环境或震动等原因出现细微的变化,从而引起激光光谱发生变化,带来测量误差,影响测量结果。由于荧光检测的灵敏度极高,通常用于痕量检测中,极小的测量误差可能会很大程度上影响测量结果,甚至导致完全相反的结论。因此,制备标准样片并应用其对荧光仪器进行校准测量显得尤为重要。
目前,用于荧光仪器校准测量的标准有按特定浓度配成的液体和固态薄膜等形式。液体标准需要置于玻璃容器之中,应用领域受限。固态薄膜型荧光强度标准样品,将含有荧光材料的薄膜制作于玻璃基片上,可用于荧光显微镜、荧光光谱仪等多种生物荧光检测仪器的日常校准和仪器间比对。但是,这种标准样品通常只含有一种特定的荧光强度,当需要标定多个荧光强度时,需要更换多个不同强度的标准样品,操作不便其标准样片的利用率低。
为了简化操作过程,提高标准样片的利用率,提出了包含多个荧光强度区域的标准样片。其中,不同荧光强度区域用于标定不同的荧光强度,使得在不更换标准样品的情况下对荧光检测仪的荧光强度、线性度、饱和度等关键参数进行测试成为可能。为了获得具有不同荧光强度区域的标准样品,通常将不同区域的荧光薄膜层设置为不同厚度或不同浓度。具体地,如果将荧光薄膜层设置为不同厚度,需要采用多次匀胶、多次曝光和一次显影的方法制作同一浓度多个厚度的荧光材料薄膜,其操作的次数与荧光强度区域的个数正相关,特别是制作包含荧光强度值多的标准样品时,其操作将异常繁杂。如果将荧光薄膜层设置为不同浓度,通常使用微阵列点样仪或旋涂加丝网印刷等相对较为简单的方法将不同浓度的荧光材料溶液涂覆于基片表面,从而形成具有大约等同厚度和不同荧光强度的点阵。但是,其并不能精准控制标准样品不同浓度的荧光材料薄膜厚度一致性,导致实际荧光强度不能得到精准控制而影响校准测量结果。另外,采用这种方式获得的标准样片只能制作大尺度的圆形图形,并不能制作含有复杂图案的小尺度图形。
因此,需要提供一种包含多个荧光强度区域的标准样片,能够简化制作过程,同时保证对荧光强度的精准控制,满足制作含有复杂图案的小尺度图形的要求。
发明内容
为了克服上述缺点,本发明的一个目的在于提供一种包含厚度相同的多个荧光强度区域,制作过程简单且满足复杂图案的小尺度图形要求的标准样片。
为达到上述目的,本发明采用下述技术方案:
一种用于荧光仪器校准测量的标准样片,包括
基板;及
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国计量科学研究院,未经中国计量科学研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201710458313.5/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。