[发明专利]测量装置和测量方法有效

专利信息
申请号: 201710452675.3 申请日: 2017-06-15
公开(公告)号: CN107289915B 公开(公告)日: 2023-09-15
发明(设计)人: 邓登峰;董建青;胡铁刚 申请(专利权)人: 杭州士兰微电子股份有限公司
主分类号: G01C15/00 分类号: G01C15/00;G01C21/10
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人: 智云
地址: 310012*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 测量 装置 测量方法
【权利要求书】:

1.一种测量装置,其特征在于,所述测量装置包括:加速度传感器和处理单元,所述处理单元与所述加速度传感器连接,所述加速度传感器用以感测所述测量装置的自由落体状态,所述处理单元用以根据所述加速度传感器感测到的自由落体状态计算被测物体的高度和/或深度,所述处理单元的数量为两个,分别为第一处理单元和第二处理单元,其中,所述第一处理单元用以对所述加速度传感器进行采样以获取所述自由落体状态的时长,所述第二处理单元用以根据重力加速度和所述自由落体状态的时长计算所述被测物体的高度和/或深度;

其中,当所述自由落体状态时长小于等于T时,T表示一预设时长,采用如下公式计算所述被测物体的高度和/或深度:

其中,H表示被测物体的高度和/或深度,g表示所述重力加速度,t表示所述自由落体状态时长;

当所述自由落体状态时长大于T时,T表示一预设时长,采用如下公式计算所述被测物体的高度和/或深度:

其中,H表示被测物体的高度和/或深度,g表示所述重力加速度,t表示所述自由落体状态时长,C表示空气阻力系数,ρ表示空气密度,S表示做自由落体的测量装置的迎风面积,m表示做自由落体的测量装置的质量。

2.如权利要求1所述的测量装置,其特征在于,所述测量装置还包括地理定位器,所述地理定位器与所述处理单元连接,所述地理定位器用以获取被测物体所在区域的重力加速度。

3.如权利要求1所述的测量装置,其特征在于,所述测量装置还包括外壳,所述加速度传感器固定于所述外壳内。

4.如权利要求3所述的测量装置,其特征在于,所述外壳的材料为橡胶或者硅胶。

5.如权利要求1所述的测量装置,其特征在于,所述测量装置还包括显示单元,所述显示单元与所述处理单元连接,所述显示单元用以显示所述被测物体的高度和/或深度。

6.如权利要求1所述的测量装置,其特征在于,所述测量装置还包括电源管理单元,所述电源管理单元与所述处理单元连接,所述电源管理单元用以向所述处理单元提供电源。

7.如权利要求1所述的测量装置,其特征在于,对所述加速度传感器进行采样的采样率为10KHz以上。

8.如权利要求1所述的测量装置,其特征在于,所述测量装置还包括无线接口,所述无线接口与所述处理单元连接,所述第一处理单元和所述第二处理单元通过所述无线接口进行数据传输。

9.如权利要求1所述的测量装置,其特征在于,所述第二处理单元采用智能手机。

10.一种测量方法,其特征在于,所述测量方法包括:松开一测量装置,使得所述测量装置自一被测物体处做自由落体,此时,加速度传感器感测所述测量装置的自由落体状态,处理单元根据所述加速度传感器感测到的自由落体状态计算被测物体的高度和/或深度,所述处理单元的数量为两个,分别为第一处理单元和第二处理单元,其中,所述第一处理单元对所述加速度传感器进行采样以获取所述自由落体状态的时长,所述第二处理单元根据重力加速度和所述自由落体状态的时长计算所述被测物体的高度和/或深度;

其中,当所述自由落体状态时长小于等于T时,T表示一预设时长,采用如下公式计算所述被测物体的高度和/或深度:

其中,H表示被测物体的高度和/或深度,g表示所述重力加速度,t表示所述自由落体状态时长;

当所述自由落体状态时长大于T时,T表示一预设时长,采用如下公式计算所述被测物体的高度和/或深度:

其中,H表示被测物体的高度和/或深度,g表示所述重力加速度,t表示所述自由落体状态时长,C表示空气阻力系数,ρ表示空气密度,S表示做自由落体的测量装置的迎风面积,m表示做自由落体的测量装置的质量。

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