[发明专利]一种测量光电二极管响应的线性度的装置

权利要求书

1.一种测量光电二极管响应的线性度的装置，主要包括暗箱(1)、光源I(2)、电源I(3)、计算机(4)、电流表(5)、电源II(6)、光源II(7)、待测光电二极管(8)，所述电源I(3)、计算机(4)、电流表(5)、电源II(6)均位于所述暗箱(1)外，所述光源I(2)、光源II(7)、电源I(3)、电源II(6)、待测光电二极管(8)和电流表(5)均与计算机(4)连接并由计算机(4)控制，其特征是：所述暗箱(1)为边长500毫米的正方体腔体，所述暗箱(1)内侧表面均匀涂有漫反射材料且具有一开口，所述待测光电二极管(8)安装于所述暗箱(1)的开口处且连接所述电流表(5)，所述光源I(2)、光源II(7)位于所述暗箱(1)内侧表面处、且分别由所述电源I(3)和电源II(6)供电，所述光源I(2)单独工作时，所述待测光电二极管(8)产生光电流I_A；所述光源II(7)单独工作时，所述待测光电二极管(8)产生光电流I_B。

2.根据权利要求1所述的一种测量光电二极管响应的线性度的装置，其特征是：所述光源I(2)和所述光源II(7)均为发光二极管。

3.根据权利要求1所述的一种测量光电二极管响应的线性度的装置，其特征是：所述电流表(5)为皮安表。