[发明专利]一种轴外单键对称度测量装置及测量方法

权利要求书

1.一种轴外单键对称度测量装置，其特征在于，包括测量装置本体(2)和定位块(3)，所述定位块(3)设置在所述本体(2)的横杆下部，一端测量时卡装在待测量工件(1)的单键槽内，所述本体(2)的竖杆中部连接有百分表(5)，所述百分表(5)的顶端连接有圆柱型结构的测头(4)，所述测头(4)与所述工件(1)接触用于进行对称度测量。

2.根据权利要求1所述的一种轴外单键对称度测量装置，其特征在于，所述定位块(3)为条形结构，两端设置有圆弧。

3.根据权利要求2所述的一种轴外单键对称度测量装置，其特征在于，所述定位块(3)的宽度小于所述工件(1)键槽宽度0.005～0.015mm。

4.根据权利要求2所述的一种轴外单键对称度测量装置，其特征在于，所述定位块(3)的长度小于所述工件(1)键槽有效长度的5～8mm。

5.根据权利要求2所述的一种轴外单键对称度测量装置，其特征在于，所述定位块(3)上顶面与宽度方向两侧面的垂直度为0.005。

6.根据权利要求2所述的一种轴外单键对称度测量装置，其特征在于，所述定位块(3)宽度方向两侧面的平行度为0.005。

7.根据权利要求1所述的一种轴外单键对称度测量装置，其特征在于，所述测头(4)的一端为直径10mm的圆柱体，另一端设置为与所述百分表(5)连接的M2.5外螺纹。

8.一种利用权利要求1所述测量装置来测量轴外单键对称度的方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1、将定位块通过螺纹连接固定在测量装置本体上；

S2、将测头通过螺纹连接安装到百分表上，并将百分表的轴套夹紧固定在测量装置本体上；

S3、将本体上的定位块卡进待测工件的单键槽内，使百分表上的测头接触到待测工件的表面时，所述百分表显示值为1～2mm，然后旋转百分表上表圈将百分表对零；

S4、从工件上取下整个测量装置并在平行于待测工件键槽底面的平面内旋转180°，再将定位块卡进工件的同一位置，然后从百分表上读出数据，此时数值的一半即是单键槽相对此轴中心线的偏离值，随即根据现有公式计算出对称度。

9.根据权利要求8所述的一种轴外单键对称度测量方法，其特征在于，步骤S1中，所述定位块压入深度大于待测量工件键槽深度的四分之三。