[发明专利]毫米波及太赫兹波直接调制器及其制备方法在审

专利信息
申请号: 201710368618.7 申请日: 2017-05-23
公开(公告)号: CN107068751A 公开(公告)日: 2017-08-18
发明(设计)人: 梁士雄;王俊龙;张立森;杨大宝;徐鹏;赵向阳;房玉龙;冯志红 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第十三研究所
主分类号: H01L29/778 分类号: H01L29/778;H01L21/335
代理公司: 石家庄国为知识产权事务所13120 代理人: 赵宝琴
地址: 050051 *** 国省代码: 河北;13
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 毫米 波及 赫兹 直接 调制器 及其 制备 方法
【说明书】:

技术领域

发明属于半导体器件技术领域,尤其涉及一种毫米波及太赫兹波直接调制器及其制备方法。

背景技术

以Si、GaAs、V2O5、GaN等传统半导体材料为基础的太赫兹直接调制器件由于受到材料本身介电常数大的限制,在信号差损上很难再有进一步的提高。近年来衬底替换技术在GaN半导体器件中发展迅猛,可以将外延材料原有的高电磁损耗的衬底替换为低损耗衬底,因此在毫米波、太赫兹波空间调制电子器件领域极具发展潜力,是目前国际上的热点。

由于GaN材料生长一般采用蓝宝石、碳化硅或硅衬底,这些衬底材料的介电常数都在10左右,对于毫米波和太赫兹波的损耗比较大,同时信号从空气进入器件时,大约有50%的电磁波被反射回去,严重限制了调制器性能提升。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是提供一种毫米波及太赫兹波直接调制器及其制备方法,能够降低器件的反射损耗和传输损耗,获得更高调制深度的器件。

为解决上述技术问题,本发明所采取的技术方案是:一种毫米波及太赫兹波直接调制器,包括外延层,在所述外延层上两侧设有欧姆接触,两欧姆接触之间为肖特基接触,在形成的欧姆接触和肖特基接触上用晶片键合的方法粘合石英基片,形成二次衬底。

一种毫米波及太赫兹波直接调制器的制备方法,包括以下步骤:

一、在一次衬底上生长外延层;

二、在外延层上光刻出有源区台面,采用离子注入或ICP刻蚀,实现有源区台面隔离;

三、在有源区台面两侧通过光刻制作欧姆接触区域,依次蒸发金属层钛、铝、镍、金、或钛、铝、铂、金金属层,剥离后,通过高温快速退火形成欧姆接触;有源区台面上蒸发Ti、Au金属,形成肖特基接触;

四、在步骤一形成的外延层上光刻出人工电磁结构,并进行金属化和剥离工艺,首次制成调制器;

五、将双面抛光的石英基片与首次制成的调制器的正面进行晶片键合,形成二次衬底;

六、去掉一次衬底;

七、根据工作频段的需要,将石英基片背面减薄和划片,获得最终的直接调制器。

进一步的,所述的一次衬底为蓝宝石、硅或碳化硅衬底。

进一步的,步骤一中所述的外延层为在所述的一次衬底上外延生长的GaN层,以及在所述的GaN层上生长的AlGaN、AlN、InAlN或石墨烯层。

进一步的,所述外延生长的GaN层的生长厚度在0.5-5μm之间。

进一步的,步骤一中所述外延层为生长单层N型GaN材料,N型GaN厚度为100nm-2μm,掺杂浓度1016/cm3量级到1019/cm3量级之间。

进一步的,步骤六中,当一次衬底为蓝宝石衬底时,采用激光剥离的方法将蓝宝石衬底剥离掉;当一次衬底为硅或碳化硅衬底时,采用机械研磨的方法先研磨掉大部分的衬底,保留100μm以下的衬底时采用ICP方法进行刻蚀,直到把一次衬底刻蚀干净。

采用上述技术方案所产生的有益效果在于:本发明利用衬底替换技术,把原来材料生长的高介电常数衬底替换为低介电常数的石英衬底,最大限度的降低了调制器的差损,提高了器件的绝对调制深度,同时超材料与二维电子气相结合的调制器具有高调制速率的特点,能够降低器件的反射损耗和传输损耗,可以实现毫米波和亚毫米波段的直接调制器件。

附图说明

图1是本发明制备步骤一的示意图;

图2是本发明制备步骤二、三的示意图;

图3是本发明制备步骤四、五的示意图;

图4是本发明制备的调制器的示意图;

图中:1、欧姆接触;2、肖特基接触。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细的说明。

由于GaN材料生长一般采用蓝宝石、碳化硅或硅衬底,这些衬底材料的介电常数都在10左右,对于毫米波和太赫兹波的损耗比较大。如果把材料的生长衬底替换为石英等低介电常数的衬底,可以减小反射损耗和传输损耗,大大提高调制器的性能。但是目前国际上还没有基于衬底替换技术的毫米波与太赫兹直接调制器件,本发明提出的是一种可以实现衬底替换技术的毫米波与太赫兹直接调制器的制备方法,能够解决现有方法制备的调制器毫米波和太赫兹波损耗大的问题。下面是本发明的具体实施例,但本发明列举的实施例不构成对本发明的限制。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国电子科技集团公司第十三研究所,未经中国电子科技集团公司第十三研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201710368618.7/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top