[发明专利]一种笔迹鉴定的方法有效
申请号: | 201710367610.9 | 申请日: | 2017-05-23 |
公开(公告)号: | CN107122766B | 公开(公告)日: | 2019-09-06 |
发明(设计)人: | 刘青;曾永涛;彭亦军 | 申请(专利权)人: | 北京瑞源智通科技有限公司 |
主分类号: | G06K9/00 | 分类号: | G06K9/00 |
代理公司: | 北京华旭智信知识产权代理事务所(普通合伙) 11583 | 代理人: | 赵文静 |
地址: | 100176 北京市经济技*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 笔迹 鉴定 方法 | ||
本发明公开了一种笔迹鉴定的方法,包括步骤:1)在样本片材上笔迹中选取待进行笔迹鉴定的区域;2)在所选区域的笔迹中定义测量点与测量方向,其中测量方向垂直于笔画的书写方向;3)将样本片材固定在载物台上;4)利用摄像装置来获取所选区域中各测量点的三维视图;5)利用所述三维视图来计算所述样本片材上各个测量点的参数;6)在检材上选取与所述样本片材的所选区域相对应的区域,并在该区域中定义与上述样本片材相对应的测量点和测量方向;7)重复上述步骤3)、4)、5),获得所述检材上各个测量点的参数;8)根据公式,将所获得的检材与样本片材的各参数进行计算比对,得到相关性系数ρX,Y,并基于该相关性来鉴定笔迹的真伪。
技术领域
本发明涉及一种笔迹鉴定的方法,属于文件检验的技术领域。
背景技术
验证笔迹签名真实性的方法已存在已久。笔迹可定义为由签名人在纸张上留下的笔墨痕迹。当前痕迹检验技术为定性检验,主要通过人眼或微观放大设备观察痕迹客体表面的形态、形状、颜色、材质等属性。由于检材客体表面不平整以及设备测量精度无法满足要求,现有设备或仪器无法精确测量客体痕迹如痕迹深度、角度、形态、颜色等属性特征。
通过对已有笔迹的观察和练习,或通过更高级的技术如临模,套模等,笔迹是非常容易被模仿的。
当今存在很多验证笔迹是否为模仿笔迹的技术。通常情况下,笔迹存在停顿、拐角、震荡等现象,因此模仿笔迹看上去不连贯,笔迹线条的宽度宽。这种鉴别模仿笔迹方法的缺点在于所需时间较长同时无法实现计算机自动化;为了得到理想和稳定的结果,他们需要大量基础数据,并且由于这种方法是基于图像分析的,系统会出现误差。
发明内容
鉴于背景技术中存在的问题,本发明的目的在于提供一种笔迹鉴定的方法,其能解决笔迹鉴定过程中无法实现量化的问题。
本文提到的笔或书写工具,可以理解为任何如铅笔,钢笔,圆珠笔或签字笔等书写工具,用于在纸张上书写。
本文提到的墨迹,可以理解为任何书写工具的颜料,如墨水和任何干燥物质,如蜡笔、墨粉、墨水、石墨或能被书写工具使用的相似物质。
根据本发明的一个实施方案,提供一种笔迹鉴定的方法,其特征在于,包括以下步骤:
1)在样本片材上笔迹中选取待进行笔迹鉴定的区域;
2)在所选区域的笔迹中定义测量点与测量方向,其中测量方向垂直于笔画的书写方向;
3)将样本片材固定在载物台上;
4)利用摄像装置来获取所选区域中各测量点的三维视图;
5)利用所述三维视图来计算所述样本片材上各个测量点的参数;
6)在检材上选取与所述样本片材的所选区域相对应的区域,并在该区域中定义与上述样本片材相对应的测量点和测量方向;
7)重复上述步骤3)、4)、5),获得所述检材上各个测量点的参数;
8)根据如下公式,将所获得的检材与样本片材的各参数进行计算比对,得到相关性系数ρX,Y,并基于该相关性来鉴定笔迹的真伪:
其中X是样本片材各个测量点的参数值,Y是检材各个测量点的参数值,μx是样本片材各个测量点的参数值的平均值,μy是检材各个测量点的参数值的平均值,σx是样本片材各个测量点的参数值的标准差,σy是检材各个测量点的参数值的标准差,E为数学期望。
根据本发明的一个实施方案,其中所述测量点的个数为50-200个。
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