[发明专利]一种笔迹鉴定的方法有效
申请号: | 201710367610.9 | 申请日: | 2017-05-23 |
公开(公告)号: | CN107122766B | 公开(公告)日: | 2019-09-06 |
发明(设计)人: | 刘青;曾永涛;彭亦军 | 申请(专利权)人: | 北京瑞源智通科技有限公司 |
主分类号: | G06K9/00 | 分类号: | G06K9/00 |
代理公司: | 北京华旭智信知识产权代理事务所(普通合伙) 11583 | 代理人: | 赵文静 |
地址: | 100176 北京市经济技*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 笔迹 鉴定 方法 | ||
1.一种笔迹鉴定的方法,其特征在于,包括以下步骤:
1)在样本片材上笔迹中选取待进行笔迹鉴定的区域;
2)在所选区域的笔迹中定义测量点与测量方向,其中测量方向垂直于笔画的书写方向;
3)将样本片材固定在载物台上;
4)利用摄像装置来获取所选区域中各测量点的三维视图;
5)利用所述三维视图来计算所述样本片材上各个测量点的参数;
6)在检材上选取与所述样本片材的所选区域相对应的区域,并在该区域中定义与上述样本片材相对应的测量点和测量方向;
7)重复上述步骤3)、4)、5),获得所述检材上各个测量点的参数;
8)根据如下公式,将所获得的检材与样本片材的各参数进行计算比对,得到相关性系数ρX,Y,并基于该相关性系数来鉴定笔迹的真伪:
其中X是样本片材各个测量点的参数值,Y是检材各个测量点的参数值,μx是样本片材各个测量点的参数值的平均值,μy是检材各个测量点的参数值的平均值,σx是样本片材各个测量点的参数值的标准差,σy是检材各个测量点的参数值的标准差,E为数学期望;
其中步骤5)包括基于三维视图进行平均化处理获得测量点的二维视图。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述测量点的个数为50-200个。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述笔迹签定的区域为整个笔迹的整体或部分。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述参数为墨迹压痕深度,墨迹压痕深度为测量点的墨迹最高点与墨迹最低点之间的距离。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述参数为纸张压痕深度,纸张压痕深度为测量点的纸张左右边界最高点与墨迹最低点之间的距离。
6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述参数为执笔角度,执笔角度为测量点的墨迹最低点到墨迹左边界或右边界的水平距离与墨迹左右边界之间的水平距离的比值。
7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述摄像装置包括摄像头和光学放大镜,所述三维视图是通过调节光学放大镜,以改变摄像头和光学放大镜以及待检测检材或样本片材的之间的距离得到各个焦平面图像,并进一步融合而成。
8.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,将样本片材或检材固定在载物台上包括利用真空吸附装置或静电吸附装置来固定样本片材或检材。
9.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,当ρX,Y大于等于0.5时,判定笔迹为真,否则判定为假。
10.根据权利要求1所述的方法,还包括检测另一个样本片材,所述样本片材与所述另一个样本片材上的笔迹为同一人书写,计算两个样本片材之间相关性系数,并且计算所述检材与所述另一个样本片材之间的相关性系数,进行比较,如果所述检材与上述两个样本片材之间的相关性系数均大于两个样本片材之间的相关性系数,则判定所述检材与所述样本片材上的笔迹为同一人所写,否则判定为假。
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