[发明专利]一种用于阵列基板的测试线路在审
申请号: | 201710356742.1 | 申请日: | 2017-05-19 |
公开(公告)号: | CN107015387A | 公开(公告)日: | 2017-08-04 |
发明(设计)人: | 甘启明 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电技术有限公司 |
主分类号: | G02F1/13 | 分类号: | G02F1/13 |
代理公司: | 深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙)44300 | 代理人: | 黄威 |
地址: | 518132 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 阵列 测试 线路 | ||
1.一种用于阵列基板的测试线路,所述测试线路包括多条第一测试短棒和多条第二测试短棒,所述多条第一测试短棒设置于阵列基板的栅极侧,所述多条第二测试短棒设置于阵列基板的源极侧,所述阵列基板的多条栅线所在层定义为第一金属层,所述阵列基板的多条数据线所在层定义为第二金属层,其特征在于,所述测试线路进一步包括多条第一金属走线和多条第二金属走线;每一所述第一测试短棒通过每一所述第一金属走线连接至每一所述栅线,每一所述第二测试短棒通过每一所述第二金属走线连接至每一所述数据线;其中所述第一金属走线和所述第二金属走线均位于第一金属层,或者所述第一金属走线和所述第二金属走线均位于第二金属层;在所述测试线路进行所述阵列基板的加电点亮检测之后,对第一金属走线和第二金属走线所在区域进行激光切割。
2.根据权利要求1所述的测试线路,其特征在于,所述第一金属走线和所述第二金属走线所使用的材料相同。
3.根据权利要求1所述的测试线路,其特征在于,所述第一测试短棒所在层和所述第二测试短棒所在层均与第一金属走线所在层不同;或者,所述第一测试短棒所在层和所述第二测试短棒所在层均与第二金属走线所在层不同。
4.根据权利要求1所述的测试线路,其特征在于,所述第一金属走线和所述第二金属走线均位于第一金属层时,所述第一金属走线和所述第二金属走线所使用的材料与所述阵列基板的多条栅线所使用的材料相同。
5.根据权利要求1所述的测试线路,其特征在于,所述第一金属走线和所述第二金属走线均位于第二金属层时,所述第一金属走线和所述第二金属走线所使用的材料与所述阵列基板的多条数据线所使用的材料相同。
6.根据权利要求1所述的测试线路,其特征在于,所述数据线包括红色信号线、绿色信号线及蓝色信号线,且按照一预设定顺序排列设置。
7.根据权利要求1所述的测试线路,其特征在于,所述栅线包括奇数栅线和偶数栅线,且按照一预设定顺序排列设置。
8.一种液晶显示面板,所述液晶显示面板包括显示区域及位于所述显示区域外围的外围区域,其特征在于,所述外围区域包括权利要求1~7任意一项所述的测试线路。
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