[发明专利]一种黑白图像中缺陷像素的校正方法有效

专利信息
申请号: 201710347644.1 申请日: 2017-05-17
公开(公告)号: CN107274353B 公开(公告)日: 2020-12-25
发明(设计)人: 李赟晟;王勇 申请(专利权)人: 上海集成电路研发中心有限公司;成都微光集电科技有限公司
主分类号: G06T5/00 分类号: G06T5/00;G06T7/00
代理公司: 上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31275 代理人: 吴世华;陈慧弘
地址: 201210 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 黑白 图像 缺陷 像素 校正 方法
【说明书】:

发明公开了一种黑白图像中缺陷像素的校正方法,包括:采集一张黑白图像;以2×2个像素作为一个检测单元,对黑白图像进行缺陷像素的检测,并将缺陷像素存储在存储单元中;对黑白图像中第一个缺陷像素采用基于区域边缘方向的校正方法进行校正,依次对该行中的缺陷像素进行校正;重复上述步骤,依次对黑白图像中所有行的缺陷像素进行校正,当边缘缺陷像素不能采用基于区域边缘方向的校正方法进行校正时,则该缺陷像素不做校正;输出图像。本发明提供的一种黑白图像中缺陷像素的校正方法对缺陷像素进行多次校正,并对不同的缺陷像素类型采用不同的基于边缘方向的校正方法进行校正,提高了图像的边缘处理效果。

技术领域

本发明涉及半导体技术领域,具体涉及一种黑白图像中缺陷像素的校正方法。

背景技术

在图像成像过程中,最先出来的Raw图像数据会存在拥有缺陷像素的现象,缺陷像素将导致整个图像质量下降。因此,需要对图像成像过程中的缺陷像素进行去除。

通常对整个图像进行校正,面对缺陷像素较集中的区域,校正效果不明显;或者虽然在一定程度上能达到明显的校正效果,但是采用的运算步骤较为复杂,例如,一般采用从多种梯度来对缺陷点进行判断和校正,但校正效果实际上并不理想,又或者是对于图像的边缘处理效果不佳。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是提供一种黑白图像中缺陷像素的校正方法,将2×2个像素组成的检测单元中的每个像素放在不同的检测单元中,经过三次检测之后确定缺陷像素,对不同的缺陷像素类型采用不同的基于边缘方向的校正方法进行校正,提高了图像的边缘处理效果。

为了实现上述目的,本发明采用如下技术方案:一种黑白图像中缺陷像素的校正方法,其特征在于,包括:

步骤01:采集一张黑白图像;

步骤02:以2×2个像素作为一个检测单元,对所述黑白图像进行缺陷像素的检测,并将缺陷像素存储在存储单元中;

步骤03:找到所述黑白图像中的第一个缺陷像素,确定以该缺陷像素为顶点的检测单元,对该检测单元中的第一行缺陷像素采用基于区域边缘方向的校正方法进行校正,校正之后的缺陷像素标记为正常点,按照上述方式,依次对所述黑白图像中该缺陷像素所在行的剩余缺陷像素依次进行校正,当该行中的边缘缺陷像素不能采用基于区域边缘方向的校正方法进行校正时,则该缺陷像素不做校正;

步骤04:重复步骤03,依次对所述黑白图像中所有行的缺陷像素进行校正,输出图像;

其中,步骤02中缺陷像素的检测的具体步骤为:

步骤0201:进行缺陷像素的第一次检测,去除黑白图像中的最下行和最右列像素之后,对剩余像素中的j/2×i/2个检测单元进行逐个检测,比较待检测像素值与该待检测像素的阈值之间的关系,如果待检测像素值大于阈值,则为缺陷像素,否则,为正常点,其中,所述黑白图像中每行含有i+1个像素,每列含有j+1个像素;

步骤0202:进行缺陷像素的第二次检测,去除黑白图像中的最下行和最左列像素之后,对剩余像素中的j/2×i/2个检测单元进行逐个检测,比较待检测像素值与该待检测像素的阈值之间的关系,如果待检测像素值大于阈值,则为缺陷像素,否则,为正常点,其中,所述黑白图像中每行含有i+1个像素,每列含有j+1个像素;

步骤0203:进行缺陷像素的第三次检测,去除黑白图像中的最上行和最右列像素之后,对剩余像素中的j/2×i/2个检测单元进行逐个检测,比较待检测像素值与该待检测像素的阈值之间的关系,如果待检测像素值大于阈值,则为缺陷像素,否则,为正常点,其中,所述黑白图像中每行含有i+1个像素,每列含有j+1个像素。

进一步地,所述待检测像素的阈值为阈值系数与检测单元中位于待检测像素对角线上两个像素的中值的乘积。

进一步地,所述阈值系数为1.5-2.5。

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