[发明专利]基于台阶结构的发光二极管在审
申请号: | 201710337000.4 | 申请日: | 2017-05-17 |
公开(公告)号: | CN107275458A | 公开(公告)日: | 2017-10-20 |
发明(设计)人: | 张亮 | 申请(专利权)人: | 西安科锐盛创新科技有限公司 |
主分类号: | H01L33/48 | 分类号: | H01L33/48;H01L33/00 |
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地址: | 710065 陕西省西安市高新区高新路86号*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 台阶 结构 发光二极管 | ||
1.一种基于台阶结构的发光二极管(10),其特征在于,包括:
单晶Si衬底(11);
第一Ge层(12),设置于所述单晶Si衬底(11)表面;
Ge基台阶结构(13),设置于所述第一Ge层(12)表面的中心位置处;
正电极(14),设置于所述第一Ge层(12)的上表面并位于所述Ge基台阶结构(13)两侧的位置处;
负电极(15),设置于所述Ge基台阶结构(13)的上表面;
钝化层(16),设置于所述第一Ge层(12)和所述Ge基台阶结构(13)的上表面以及所述正电极(14)和所述Ge基台阶结构(13)的中间,以形成所述发光二极管(10)。
2.根据权利要求1所述的发光二极管(10),其特征在于,所述第一Ge层(12)包括晶化Ge籽晶层、晶化Ge主体层和第二Ge层;其中,所述Ge主体层设置于所述Ge籽晶层上表面,所述第二Ge层设置于所述Ge主体层上表面。
3.根据权利要求2所述的发光二极管(10),其特征在于,所述晶化Ge籽晶层的厚度为40~50nm;所述晶化Ge主体层的厚度为150~250nm;所述第二Ge层的厚度为400-450nm。
4.根据权利要求3所述的发光二极管(10),其特征在于,所述晶化Ge籽晶层和所述晶化Ge主体层是经过LRC工艺晶化处理后形成的。
5.根据权利要求4所述的发光二极管(10),其特征在于,所述晶化处理包括:
将包括所述单晶Si衬底(11)、所述晶化Ge籽晶层和所述晶化Ge主体层的整个衬底材料加热至700℃;
利用LRC工艺晶化所述整个衬底材料,其中,激光波长为808nm,激光光斑尺寸10mm×1mm,激光功率为1.5kW/cm2,激光移动速度为25mm/s;
自然冷却所述整个衬底材料。
6.根据权利要求1所述的发光二极管(10),其特征在于,所述第一Ge层(12)为P型,且掺杂浓度为5×1018cm-3。
7.根据权利要求1所述的发光二极管(10),其特征在于,所述Ge基台阶结构(13)包括GeSn层和第三Ge层;其中,所述第三Ge层设置于所述GeSn层上表面。
8.根据权利要求7所述的发光二极管(10),其特征在于,所述GeSn层的厚度为150~200nm。
9.根据权利要求7所述的发光二极管(10),其特征在于,所述第三Ge层为N型,且厚度为40~60nm、掺杂浓度为1×1019cm-3。
10.根据权利要求1所述的发光二极管(10),其特征在于,所述正电极(14)和所述负电极(15)为Cr或者Au材料,且其厚度为150~200nm。
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