[发明专利]非均匀性校正时校正参数的标定方法在审
申请号: | 201710304490.8 | 申请日: | 2017-05-03 |
公开(公告)号: | CN107101727A | 公开(公告)日: | 2017-08-29 |
发明(设计)人: | 韩瑞;顾鑫;钱佳;高志强;隋修宝;王世允;王洪涛 | 申请(专利权)人: | 江苏北方湖光光电有限公司 |
主分类号: | G01J5/20 | 分类号: | G01J5/20 |
代理公司: | 总装工程兵科研一所专利服务中心32002 | 代理人: | 杨立秋 |
地址: | 214000*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 均匀 校正 参数 标定 方法 | ||
1.一种非均匀性校正时校正参数的标定方法,其特征在于,应用于标定系统中,所述标定系统包括计算机、黑体辐射源以及位于常温环境中的非制冷红外热成像仪,所述非制冷红外热成像仪包括红外焦平面探测器以及半导体热电制冷器TEC,所述红外焦平面探测器与所述黑体辐射源相对,所述方法包括:
所述TEC为所述红外焦平面探测器提供与待测试温区对应的基准温度,所述待测试温区为下限温度值至上限温度值形成的温度范围;
在所述TEC为所述红外焦平面探测器提供稳定的所述基准温度后,所述黑体辐射源在所述待测试温区的下限温度值工作,所述计算机保存所述红外焦平面探测器采集的第一原始图像;
所述黑体辐射源在所述待测试温区的上限温度值工作,所述计算机保存所述红外焦平面探测器采集的第二原始图像;
所述计算机利用所述第一原始图像和所述第二原始图像,计算与所述待测试温区对应的校正参数。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述TEC为红外焦平面探测器提供与待测试温区对应的基准温度,包括:
将所述TEC的设定参数设置为与待测试温区对应的基准温度所对应的设定值,所述TEC利用所述设定值为所述红外焦平面探测器提供所述基准温度。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述黑体辐射源在所述待测试温区的下限温度值工作,所述计算机保存所述红外焦平面探测器采集的第一原始图像,包括:
所述黑体辐射源在所述待测试温区的上限温度值工作时,所述计算机接收所述红外焦平面探测器采集的至少一帧原始图像,计算每帧原始图像的平均输出值,在所述平均输出值达到第一预定值时,所述计算机保存此时所述红外焦平面探测器采集的一帧原始图像,记为所述第一原始图像。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述黑体辐射源在所述待测试温区的上限温度值工作,所述计算机保存所述红外焦平面探测器采集的第二原始图像,包括:
所述黑体辐射源在所述待测试温区的上限温度值工作时,所述计算机接收所述红外焦平面探测器采集的至少一帧原始图像,计算每帧原始图像的平均输出值,在所述平均输出值达到第二预定值时,所述计算机保存此时所述红外焦平面探测器采集的一帧原始图像,记为所述第二原始图像。
5.根据权利要求1至4中任一所述的方法,其特征在于,所述计算机利用所述第一原始图像和所述第二原始图像,计算与所述待测试温区对应的校正参数,包括:
所述计算机利用所述第一原始图像各像元的像素值以及所述第二原始图像各像元的像素值,计算与所述待测试温区对应的校正参数。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于江苏北方湖光光电有限公司,未经江苏北方湖光光电有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201710304490.8/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。