[发明专利]一种单板测试装置及方法

说明书

本发明提供一种单板测试装置及方法，包括：计数器A，计数器B，控制模块，待测试系统模块，继电器以及给控制模块供电的电源模块；在测试初始阶段，控制模块控制继电器断开，AC上电；开启整机测试，当待测试系统模块启动，待测试系统模块给控制模块一个中断信号，计数器B加一，控制模块将继电器关闭，AC掉电，计数器A加一；当待测试系统模块未启动，控制模块在等待预设时长后，关闭继电器，计数器B数据不变，计数器A加一；在经过预设的测试时间段或计数器A到达指定数值后，控制模块中导出计数器A和计数器B的计数数据。实现了单板测试的批量性及定量性，保证存储整机系统的可靠性。

技术领域

本发明涉及单板测试领域，尤其涉及一种单板测试装置及方法。

背景技术

单板的可靠性是整机可靠性的重要基础，特别是在存储领域中，可靠性就是存储系统的生命，所以单板的可靠性就显得尤为重要。存储控制器在刚上电开机但系统BBU还没受控的时候如果发生意外掉电，容易造成整机软件系统的崩溃。在传统的单板疲劳测试中，AC掉电是发生在系统软件关机之后才进行，直接的AC掉电被视为异常操作，但是随着整机系统可靠性的发展，必须要将直接的AC上下电作为存储单板的一项可靠性测试，采用何种测试装置是当下丞待解决的技术问题。

发明内容

为了克服上述现有技术中的不足，本发明提供一种单板测试装置，包括：计数器A，计数器B，控制模块，待测试系统模块，继电器以及给控制模块供电的电源模块；

计数器A，计数器B，待测试系统模块，继电器分别与控制模块连接；

控制模块用于在测试初始阶段，控制模块控制继电器断开，AC上电；开启整机测试，当待测试系统模块启动，待测试系统模块给控制模块一个中断信号，计数器B加一，控制模块将继电器关闭，AC掉电，计数器A加一；

当待测试系统模块未启动，控制模块在等待预设时长后，关闭继电器，计数器B数据不变，计数器A加一；

在经过预设的测试时间段或计数器A到达指定数值后，控制模块中导出计数器A和计数器B的计数数据。

优选地，待测试系统模块包括：OS操作系统模块，CPLD系统模块，LS系统模块；

CPLD系统模块用于当CPLD正常启动且所设定引脚逻辑状态正确后向计数器B反馈计数加一的信号；

LS系统模块用于当所设定电平信号正常且稳定后向计数器B反馈计数加一的信号；

OS操作系统模块用于当操作系统正常启动且稳定后向计数器B反馈计数加一的信号。

优选地，电源模块包括：常用电源模块，第一二极管，备用电源模块以及第二二极管；

常用电源模块与第一二极管阳极连接，第一二极管阴极与控制模块连接；

备用电源模块与第二二极管阳极连接，第二二极管阴极与控制模块连接。

优选地，备用电源模块采用锂二氧化锰电池CR1220。

常用电源模块采用供电电压为3.3V的外接电源。

优选地，控制模块采用STM32FI03ZET6处理器。

一种单板测试方法，测试方法包括：

在测试初始阶段，控制模块控制继电器断开，AC上电；

开启整机测试，当待测试系统模块启动，待测试系统模块给控制模块一个中断信号，计数器B加一，控制模块将继电器关闭，AC掉电，计数器A加一；

当待测试系统模块未启动，控制模块在等待预设时长后，关闭继电器，计数器B数据不变，计数器A加一；

在达到预设的测试时长后，测试结束，控制模块中导出计数器A和计数器B的计数数据；