[发明专利]音箱漏气检测装置和方法、计算机可读存储介质

说明书

本发明公开了音箱漏气检测装置和方法、以及计算机可读存储介质。所述音箱漏气检测装置包括密封测试箱和气压调节装置；所述气压调节装置，用于调节所述密封测试箱箱内的气压；所述密封测试箱内设置有音箱固定装置和至少一个测距仪；所述音箱固定装置，用于固定待测的音箱；所述测距仪，用于测量所述音箱的振膜与测距仪之间的距离。本发明提供的音箱漏气检测装置和方法，可适用于不同类型的音箱产品。

技术领域

本发明涉及声学领域，尤其涉及音箱漏气检测装置、音箱漏气检测方法、以及计算机可读存储介质。

背景技术

音箱腔体漏气会导致音箱性能的劣化，在音箱出厂前，厂家会检测音箱腔体的密封性是否合格。现有技术中，主要有两种测试方法：

第一种方法，向音箱腔体内加压并检测音箱腔体的内部压力，如果音箱腔体的内部压力在短时间内就趋于稳定，则说明音箱腔体有漏气现象，密封性不合格。这种方法的局限性在于，只适合于倒相式音箱，可以利用倒相式音箱本身的倒相孔作为进气孔向音箱腔体内加压，不太适合于全封闭式音箱。

第二种方法，通过测试音箱的声学性能来检测音箱腔体的密封性。这种测试方法的局限性在于，如果音箱只是轻微漏气，可能会无法检出，因此不适用于对密封性要求特别高的音箱产品，例如不适用于对防水有要求的音箱产品。

发明内容

本发明的目的在于提供一种音箱漏气的测试方案，该测试方案具有更广泛的适用性。

根据本发明的第一方面，提供了一种音箱漏气检测装置，包括密封测试箱和气压调节装置；

所述气压调节装置，用于调节所述密封测试箱箱内的气压；

所述密封测试箱内设置有音箱固定装置和至少一个测距仪；

所述音箱固定装置，用于固定待测的音箱；

所述测距仪，用于测量所述音箱的振膜与测距仪之间的距离。

可选地，所述音箱漏气检测装置还包括气压计；所述气压计，用于检测所述密封测试箱箱内的气压。

可选地，所述测距仪为激光测距仪。

可选地，所述音箱漏气检测装置还包括漏气分析装置；所述漏气分析装置，用于从所述测距仪获取距离数据，从所述气压计获取气压数据；根据所述距离数据计算所述音箱的振膜的位移，分析所述音箱的振膜在不同气压下的位移以判断所述音箱的漏气情况。

根据本发明的第二方面，提供一种音箱漏气检测方法，包括以下步骤：

调节密封测试箱箱内的气压，测量密封测试箱内的音箱的振膜在不同气压下的位移；

根据所述音箱的振膜在不同气压下的位移分析所述音箱的漏气情况。

可选地，所述测量所述音箱的振膜在不同气压下的位移，是通过测量所述音箱的振膜到箱内设定位置处的距离，计算所述距离的在不同气压下的变化而获得。

可选地，所述调节所述密封测试箱箱内的气压，测量所述音箱的振膜在不同气压下的位移，包括：

步骤一：先测量所述音箱的振膜到箱内设定位置处的距离作为初始距离；

步骤二：将所述密封测试箱箱内的气压调节到目标气压，测量在目标气压下所述音箱的振膜到所述设定位置处的距离；

步骤三：调低所述密封测试箱箱内的气压，测量在当前气压下所述音箱的振膜到所述设定位置处的距离；

步骤四：计算步骤二和步骤三测量得到的距离与所述初始距离的差值，以获取所述振膜在不同气压下的位移。

可选地，重复执行步骤三N次，N≥2。