[发明专利]时钟抖动测量电路和方法及包括该电路的半导体装置

说明书

本申请公开了用于测量时钟抖动的电路和测量时钟抖动的方法和包括用于测量时钟抖动的电路的种半导体装置。所述用于测量时钟抖动的电路包括：内部信号发生器，其构造为产生分别与输入时钟信号同步的内部时钟信号和单脉冲信号；彼此串联连接的多个延迟单元，其构造为产生各自的延迟后时钟信号；多个锁存电路，其构造为与各个延迟后时钟信号同步地锁存单脉冲信号，并且输出各个采样信号；以及计数子电路，其构造为输出通过对所述各个采样信号的有效采样信号的数量进行计数而产生的计数值。

相关申请的交叉引用

本申请要求于2016年7月8日在韩国知识产权局提交的韩国专利申请第10-2016-0087117号的优先权，其公开内容以引用方式全文合并于此。

技术领域

本公开涉及时钟信号的抖动，更具体地，涉及一种用于测量时钟信号的抖动的电路和测量时钟信号的抖动的方法。

背景技术

数字电路可按照与时钟信号同步的方式工作。例如，数字电路可包括多个触发器(flip-flop)，并且每个触发器可响应于时钟信号的边沿而工作。另外，数字电路中包括的与时钟信号同步地工作的各个功能块可具有不同的工作频率，因此，可生成具有不同频率的多个时钟信号。

时钟信号可具有抖动，并且由于在考虑时钟信号抖动的情况下进行设计，因此功能块的性能会受到时钟信号抖动的限制。时钟信号的抖动可由于半导体制造工艺的变化而在各个晶片(或者，各个芯片)之间是不同的，可依赖于数字电路的温度或施加至该数字电路的电压而变化，并且可取决于生成该时钟信号的锁相环(PLL)的性能。

发明内容

本公开提供了一种时钟抖动测量电路以及包括该时钟抖动测量电路的半导体装置。

本公开还提供了一种测量时钟抖动的方法。

根据本发明构思的一个方面，提供了一种用于测量时钟抖动的电路，所述电路包括：内部信号发生器，其构造为产生分别与输入时钟信号同步的内部时钟信号和单脉冲信号；彼此串联连接且构造为产生各自的延迟后时钟信号的多个延迟单元，其中，所述内部时钟信号依次穿过所述多个延迟单元；多个锁存电路，其构造为与各个延迟后时钟信号同步地锁存所述单脉冲信号，并且输出各个采样信号；以及计数子电路，其构造为输出通过对所述各个采样信号当中的有效采样信号的数量进行计数而产生的计数值。

根据本发明构思的另一方面，提供了一种半导体装置，包括：包括一个或多个电路的功能块，其构造为接收输入时钟信号并与所述输入时钟信号同步地工作；时钟抖动测量电路，其构造为基于通过与多个延迟后时钟信号同步地锁存单脉冲信号而获得的采样信号来测量所述输入时钟信号的抖动，所述多个延迟后时钟信号是通过将所述输入时钟信号延迟而产生的，其中所述单脉冲信号与所述输入时钟信号同步；以及性能控制电路，其构造为基于所测量的抖动来调整功能块的一个或多个电路的性能。

根据本发明构思的另一方面，提供了一种测量时钟抖动的方法，所述方法包括步骤：产生与输入时钟信号同步的内部时钟信号并且通过将所述内部时钟信号延迟来产生多个延迟后时钟信号；产生与所述输入时钟信号同步的单脉冲信号；输出包括有效采样信号和无效采样信号的采样信号，该步骤包括通过在所述单脉冲信号的有效脉宽期间与所述多个延迟后时钟信号同步地锁存所述单脉冲信号来输出所述有效采样信号；以及对所述采样信号当中的有效采样信号的数量进行计数。