[发明专利]方法、直线驱动装置和设备有效
申请号: | 201710273244.0 | 申请日: | 2017-04-21 |
公开(公告)号: | CN107449442B | 公开(公告)日: | 2020-09-04 |
发明(设计)人: | 法比安·阿尔贝特;拉尔夫·哈特兰夫;克里斯·霍夫曼;米夏埃尔·耶恩奇;斯文·罗特;卡斯滕·施平德勒;安德烈亚斯·韦特 | 申请(专利权)人: | 西门子公司;费斯托股份有限两合公司 |
主分类号: | G01C25/00 | 分类号: | G01C25/00 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 余刚;李慧 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 方法 直线 驱动 装置 设备 | ||
1.一种用于测定直线驱动装置(LA)的位置误差(PF)的方法,其中,所述直线驱动装置(LA)包括转子(L*,L)、至少一个区段(Seg)、至少一个传感器(PS)和控制装置(SE),其中,相应的所述转子(L*,L)具有探测元件(MG),其中相应的所述转子(L)的相应的位置(x-ist)借助于所述探测元件(MG)通过至少一个传感器(PS)测定,其中,所述方法至少包括以下步骤:
确定第一转子(L*)的和另外的转子(L)的所述探测元件(MG)的相应的位置和/或指向,
将相应的所述另外的转子(L)的所述探测元件(MG)的相应的位置和/或指向与所述第一转子(L*)的相应的所述探测元件(MG)的位置和/或指向进行比较,以确定在相应的所述另外的转子(L)的所述探测元件(MG)的相应的位置和/或指向与所述第一转子(L*)的所述探测元件(MG)的位置和/或指向之间的偏差(Δ),
将相应的所述偏差(Δ)指派给相应的所述另外的转子(L),
通过所述第一转子(L*)确定相应的所述传感器(PS)的不一致性(D),
将相应的所述不一致性(D)指派给相应的所述传感器(PS),
通过将相应的所述另外的转子(L)的偏差与所述传感器的不一致性(D)相关联确定出相应的所述转子(L,L*)的所述位置误差(PF)。
2.根据权利要求1所述的方法,其中,根据相应的所述传感器(PS)的所述不一致性(D)提供相应的所述转子(L,L*)以所述不一致性(D)校正的位置(x-ist)。
3.根据权利要求1所述的方法,其中,根据相应的所述转子(L)的相应的所述偏差(Δ)提供所述转子(L)的以所述偏差(Δ)校正的位置。
4.根据权利要求1至3中任一项所述的方法,其中,在布置所述区段(Seg)之后,根据第一不一致性确定方法来确定相应的所述不一致性(D),其中,所述第一不一致性确定方法至少包括以下步骤:
根据预设的运动流程(BA)将所述第一转子(L*)定位在相应的所述区段(Seg)上,
通过至少一个所述传感器(PS)测定相应的所述转子(L)的相应的位置(x-ist),
将测定的位置(x-ist)与通过所述运动流程(BA)预设的所述第一转子(L*)的位置(x-BA)进行比较(Diff),
由所述比较(Diff)确定至少一个所述传感器(PS)的不一致性(D)。
5.根据权利要求1至3中任一项所述的方法,其中,根据第二不一致性测量方法实现用于确定至少一个所述传感器(PS)的所述不一致性(D)的方法,其中,所述第二不一致性测量方法具有以下步骤:
通过参考系统移动所述第一转子(L*),其中,所述参考系统根据预设的运动流程(BA)将所述第一转子(L*)定位在相应预设的位置(x-BA)处,
利用至少一个所述传感器(PS)测定所述第一转子(L*)的位置(x-ist),
将测定的位置(x-ist)与所述预设的位置(x-BA)进行比较,
根据所述比较(Diff)确定至少一个所述传感器(PS)的不一致性(D)。
6.根据权利要求1至3中任一项所述的方法,其中,至少为至少一个所述另外的转子(L)相应地分派一个标识。
7.根据权利要求1至3中任一项所述的方法,其中,相应的所述转子(L,L*)的运动相应地根据虚拟轴线(VA)实现,并且其中相应的所述转子(L)的所述偏差(Δ)被指派给相应的所述虚拟轴线(VA)。
8.根据权利要求1至3中任一项所述的方法,其中,相应的一个所述传感器(PS)被相应地指派给一个区段(Seg)。
9.根据权利要求1至3中任一项所述的方法,其中,至少一个所述传感器(PS)测定所述转子(L,L*)超过多个所述区段(Seg)的相应的所述位置(x-ist)。
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