[发明专利]一种硬盘状态的检测方法及检测装置

说明书

本发明公开了一种硬盘状态的检测方法和检测装置，该检测方法包括：对硬盘进行短测试；以及在短测试无异常的情况下，对硬盘进行长测试；其中短测试包括：对硬盘的部分地址空间进行的检测；以及长测试包括：对硬盘的全盘地址空间进行的检测。本发明通过硬盘状态检测过程中结合了短测试与长测试，实现了硬盘状态的自动检测，从而实现了不再需要人工检查、检测全程无需人工干预，提高了硬盘检测的效率。

技术领域

本发明涉及计算机服务器技术领域，具体来说，涉及一种硬盘状态的检测方法及检测装置。

背景技术

在服务器生产过程中，硬盘是使用量最大的一类部件，如何快速的全面的对硬盘进行检验，是当前面临的最大的问题。在业界，检测硬盘一般都是利用硬盘自检技术，即下达SMART(Self－Monitoring Analysis and Reporting Technology，自动检测分析及报告技术)指令给硬盘，硬盘进行自我检测。

但是现阶段，这个过程是在硬盘内部进行，需要人工不停地去查看SMART信息，以确定是否完成，或者有时会出现测试人员忙于其他工作，过了很久才回来查看，此时硬盘检测已完成多时，从而造成时间的浪费、降低了效率。

另外，现有的技术中这种基于人工来检查SMART信息的方法，人工操作在面对大量的硬盘检测的情况时，往往显得力不从心。如果测试人员忙于其他工作，而过了很久才来查看，此时硬盘检测已完成多时，从而会影响整体的测试效率。

之所以存在这个问题的一个方面，是因为一般用户面对的只是很少量的硬盘，并且测试时间相对充足，所以对于硬盘检测效率的要求不会太高。但是，当需要对上万块进行硬盘检测以满足生产需求的情况下，这种提高检测效率的要求就变得十分迫切了。

针对相关技术中需要人工来检查硬盘自检结果从而影响效率的问题，目前尚未提出有效的解决方案。

发明内容

针对相关技术中需要人工来检查硬盘自检结果从而影响效率的问题，本发明提出一种硬盘状态的检测方法及检测装置，能够实现硬盘状态的自动化检测。

本发明的技术方案是这样实现的：

根据本发明的一个方面，提供了一种硬盘状态的检测方法，包括：

对硬盘进行短测试；以及

在短测试无异常的情况下，对硬盘进行长测试；

其中短测试包括：对硬盘的部分地址空间进行的检测；以及

长测试包括：对硬盘的全盘地址空间进行的检测。

优选地，对硬盘的部分地址空间进行检测包括：对硬盘的前一部分地址空间进行检测。

优选地，对硬盘的部分地址空间进行检测还包括：对硬盘的后一部分地址空间进行检测。

优选地，短测试还包括：硬盘上线测试、硬盘电路诊断、硬盘SMART信息检测、低级格式化检查、硬盘磁头检查、随机位置检测、硬盘SMART信息再次检测之中的任意一种或任意多种。

优选地，长测试还包括：硬盘上线测试、硬盘电路诊断、硬盘SMART信息检测、低级格式化检查、硬盘磁头检查、随机位置检测、硬盘SMART信息再次检测之中的任意一种或任意多种。

优选地，在对硬盘进行短测试之后还包括：显示短测试结果。

优选地，在对硬盘进行长测试之后还包括：显示长测试结果。

根据本发明的另一方面，提供了一种硬盘状态的检测装置，包括：

短测试单元，用于对硬盘进行短测试；以及

长测试单元，连接于短测试单元，用于在短测试无异常的情况下，对硬盘进行长测试；