[发明专利]一种硬盘状态的检测方法及检测装置有效
| 申请号： | 201710253086.2 | 申请日： | 2017-04-18 |
| 公开（公告）号： | CN107145412B | 公开（公告）日： | 2020-12-22 |
| 发明（设计）人： | 曹瑞 | 申请（专利权）人： | 曙光信息产业（北京）有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京德恒律治知识产权代理有限公司 11409 | 代理人： | 章社杲;卢军峰 |
| 地址： | 100193 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 硬盘 状态 检测 方法 装置 | ||
1.一种硬盘状态的检测方法，其特征在于，包括：
对硬盘进行短测试；以及
在所述短测试无异常的情况下，对所述硬盘进行长测试；
其中所述短测试包括：对硬盘的部分地址空间进行的检测；以及
所述长测试包括：对硬盘的全盘地址空间进行的检测；
在进行所述短测试和所述长测试的过程中，不断的扫描硬盘的检测进度，当硬盘完成短测试和长测试的检测时，对相应的检测结果进行展示，所述短测试和所述长测试均包括针对硬盘的电路、物理盘片进行的检测。
2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，对所述硬盘的部分地址空间进行检测包括：
对硬盘的前一部分地址空间进行检测。
3.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，对所述硬盘的部分地址空间进行检测包括：
对所述硬盘的后一部分地址空间进行检测。
4.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述短测试还包括：
硬盘上线测试、硬盘电路诊断、硬盘SMART信息检测、低级格式化检查、硬盘磁头检查、随机位置检测、以及硬盘SMART信息再次检测之中的任意一种或任意多种。
5.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述长测试还包括：
硬盘上线测试、硬盘电路诊断、硬盘SMART信息检测、低级格式化检查、硬盘磁头检查、随机位置检测、以及硬盘SMART信息再次检测之中的任意一种或任意多种。
6.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，在对所述硬盘进行短测试之后还包括：显示短测试结果。
7.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，在对所述硬盘进行长测试之后还包括：显示长测试结果。
8.一种硬盘状态的检测装置，其特征在于，包括：
短测试单元，用于对硬盘进行短测试；以及
长测试单元，连接于所述短测试单元，用于在短测试无异常的情况下，对硬盘进行长测试；其中所述短测试包括：对硬盘的部分地址空间进行的检测；以及
所述长测试包括：对硬盘的全盘地址空间进行的检测；
在进行所述短测试和所述长测试的过程中，不断的扫描硬盘的检测进度，当硬盘完成短测试和长测试的检测时，对相应的检测结果进行展示，所述短测试和所述长测试均包括针对硬盘的电路、物理盘片进行的检测。
9.根据权利要求8所述的检测装置，其特征在于，所述短测试单元还包括：
第一短测试子单元，用于对硬盘的前一部分地址空间进行检测。
10.根据权利要求9所述的检测装置，其特征在于，所述短测试单元还包括：
第二短测试子单元，用于对硬盘的后一部分地址空间进行检测。
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