[发明专利]一种超声波探伤仪性能测试工装及其测试方法

权利要求书

1.一种超声波探伤仪性能测试工装，其特征在于：包含压块、弹性限位件、若干调整件和固定架，固定架中间开有与测试块匹配的通孔，固定架上侧设置有凹陷的容腔，若干调整件等间距设置在固定架侧面，压块下侧开有与超声波探头座匹配的盲孔，盲孔上端设置有一贯穿压块的通孔并且通孔孔径与超声波探头接线匹配，弹性限位件为弹性材料制成的圆环形，弹性限位件套设在超声波探头座上端并且位于压块的通孔内用于填充压块与超声波探头之间间隙。

2.按照权利要求1所述的超声波探伤仪性能测试工装，其特征在于：所述调整件为带螺帽的螺杆，螺杆垂直穿过固定架的侧壁并且与固定架螺纹设置，螺杆一端设置在固定架的容腔内，螺帽设置在螺杆另一端。

3.按照权利要求1所述的超声波探伤仪性能测试工装，其特征在于：所述调整件为4个，呈十字形分布在固定架侧面。

4.按照权利要求1所述的超声波探伤仪性能测试工装，其特征在于：所述压块采用钢材制作，质量为0.5～1kg。

5.一种超声波探伤仪性能测试工装的测试方法，其特征在于包含以下步骤：

步骤一：将仪器增益调至最大，此时仪器增益读书为S₀；

步骤二：固定架通过通孔套设并固定在测试块上端，将超声波探头放置在测试块上并加耦合剂，弹性限位件的凹孔套在超声波探头上，压块放置在弹性限位件盲孔内，超射波探头接线从凹孔上端和压块通孔穿出与超声波探伤仪连接；

步骤三：手动移动超声波探头，找出测试块的平底孔反射回波；

步骤四：通过四个调整件微调超声波探头位置，找到最高反射回波；

步骤五：将四个调整件锁紧固定；

步骤六：调节仪器增益，使平底孔回波高度降至50％满刻度，设此时仪器的增益读数为S₁,超声检测系统的灵敏度余量S＝S₀-S₁；

步骤七：调节增益，使平底孔回波高度至100％满刻度；

步骤八：将仪器增益每次以2dB的增量调节衰减器，每次调节后用满刻度的百分值记下回波幅度，一直继续到增益减少26dB；

步骤九：实测值与理论值的最大正偏差d(+)和最大负偏差d(-)的绝对值之和为垂直线性误差

Δd＝|d(+)|+|d(-)|

其中，Δd垂直线性误差(百分数)，d(+)与理论值的最大正偏差值，d(-)与理论值的最大负偏差值；

步骤十：调节增益，使平底孔回波高度至100％满刻度，记下此时的增益值A；

步骤十一：调节探伤仪增益使得回波高调至刚刚能看到波形显示，记下此时的增益值B，动态范围＝A-B。

6.按照权利要求5所述的测试方法，其特征在于：所述步骤四中四个调整件微调的具体过程为，调节一对相对设置的调整件，推动压块，找出探头在平底孔试块沿调整件方向上的最高反射回波；调节另一对调整件，推动压块，找出探头在平底孔试块沿调整件方向上的最高反射回波。