[发明专利]一种基于干涉图闭合环的InSAR解缠误差探测方法

权利要求书

1.一种基于干涉图闭合环的InSAR解缠误差的探测方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤一，获取研究区域的多景单视复数影像，进行多视、滤波、干涉去平、去除地形相位、解缠操作，获取解缠的InSAR差分干涉图；

步骤二，选择要探测解缠误差的目标干涉对，探测能与目标干涉对组成闭合环的其他两个干涉对，得到多组干涉图闭合环，解算每组中三个干涉对的残差；

步骤三，对每组干涉对闭合环残差进行多项式拟合，并用最小二乘法求解多项式参数，分别求解闭合环残差与多项式拟合结果的差值；

步骤四，取各组闭合差结果中绝对值小于0.5弧段的像素，其他像素掩模掉，将保留的各个差值干涉对取并集；

步骤五，将并集结果与目标干涉对像素取交集，目标干涉对掩模掉的像素便是解缠误差存在的像素。

2.如权利要求1所述的基于干涉图闭合环的InSAR解缠误差的探测方法，其特征在于，步骤二中，解算每组中三个干涉对的残差的公式为：

上式中，为解算后得到的残差，为目标干涉对，为与目标干涉对组成闭合环的其他两个干涉对，a₁，a₂，…，a_k为与干涉对组成闭合环的所有SLC编号。

3.如权利要求1所述的基于干涉图闭合环的InSAR解缠误差的探测方法，其特征在于，步骤三的具体过程包括：

检查闭合环残差结果，对其闭合环残差通过多项式估计去除轨道误差；如不含有轨道误差，则令改正后的闭合环残差

如果含有轨道误差，则对进行二项式拟合，采用的多项式为：

p_i＝b₀+b₁x+b₂y+b₃xy

上式中，b₀，b₁，b₂和b₃为多项式的系数，x，y为多项式的参数；通过最小二乘法求解多项式的系数，并令改正后的闭合环残差：

上式中，和为通过最小二乘法估计的多项式系数。

4.如权利要求1所述的基于干涉图闭合环的InSAR解缠误差的探测方法，其特征在于，所述的步骤四的过程包括：

针对于步骤三得到的改正后的闭合环残差如果说明满足条件的像素在干涉对中均不存在解缠误差，仅含有随机性误差，则将不满足要求的像素掩模掉；其中，ε为设定的阈值，ε≤0.5·2π；

将保留的各个差值干涉对取并集：

上式中，表示所有含有干涉对的闭合环并集，a₁，a₂，…，a_k为与干涉对组成闭合环的所有SLC编号。