[发明专利]换热设备垢样的检测方法

权利要求书

1.一种换热设备垢样的检测方法，其特征在于，所述检测方法包括：

采集换热设备的垢样；

对所述垢样进行焙烧，得到焙烧产物；

采用X射线荧光光谱仪对所述焙烧产物的成分及含量进行测定，得到测定结果；

在对所述垢样进行焙烧之前，所述检测方法还包括：对所述垢样进行干燥以及对干燥前后的所述垢样进行称重的步骤；

采用X射线荧光光谱仪对所述焙烧产物的成分及含量进行测定时，选择无标样分析程序进行测定；

采用X射线荧光光谱仪对所述焙烧产物的成分及含量进行测定的步骤中，控制检测的所述焙烧产物为≤3g的粉状物；

对所述焙烧产物的成分及含量进行测定得到所述测定结果的步骤包括：

采用X射线荧光光谱仪对所述焙烧产物的成分及含量进行测定，得到初步结果；

对所述初步结果进行核实校准，得到所述测定结果；

对所述初步结果进行核实校准的步骤包括如下a至i中的任意一种或多种：

a，根据所述初步结果中各成分的含量，核实所述X射线荧光光谱仪中所选择的评估模式是否为互动评估模式，若非互动评估模式，则更改为互动评估模式重新测定；

b，核实所定义的垢样的特性是否为粉体，若不是，调整为粉体进行重新测定；

c，检查所述焙烧产物的成分中的最高Kα谱线是否有重叠，若重叠部分超过半峰高时，则选择Kβ谱线；若Kα谱线和Kβ谱线同时重叠，则选择Lα谱线进行重新测定；

d，检查Kα谱线的强度是否超出探测器的线性范围，若超出探测器的线性范围，则选择Kβ谱线重新测定；若Kβ谱线的强度亦超出探测器的线性范围，则选择Lα谱线重新测定；

e，核实化合物的分子式是否准确，若不准确，则更改为准确的分子式后重新测定；

f，若已知所述垢样中的某一成分已知，而所述初步结果中无相应的成分，则在所述初步结果中添加所述相应的成分后重新进行测定；

g，若已知所述垢样中某一成分的含量，且与所述初步结果中相应成分的含量不一致，则将所述初步结果中的所述相应成分的含量更改为已知含量后重新进行测定；

h，核实所述垢样中的各成分均被测量，确认均被测量后对所述测量结果进行归一处理；

i，根据所述初步结果中各成分的浓度计算出理论康普顿线强度，将所述理论康普顿线强度与实际康普顿线强度进行比较，得到比值，并当所述比值为0.7～1.4时，则所述初步结果即为所述测定结果。

2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，在所述干燥步骤中，将干燥前的所述垢样置于真空烘箱中进行干燥。

3.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，在采用X射线荧光光谱仪对所述焙烧产物的成分及含量进行测定之前，所述检测方法还包括将所述焙烧产物研磨成粉体的步骤。

4.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述X射线荧光光谱仪具有内置的标准品，从标准样品中选择以标样作为检查样品，进行无标样分析。

5.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，采用X射线荧光光谱仪对所述焙烧产物的成分及含量的步骤是在氦气的分析介质中进行的。

6.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，采用X射线荧光光谱仪对所述焙烧产物的成分及含量进行测定时，采用扫描模式测量所述焙烧产物。