[发明专利]一种电阻温度系数测量装置及方法

权利要求书

1.一种电阻温度系数测量装置，用于测量电热合金的电阻温度系数，其特征在于，所述装置包括：

加热炉，所述加热炉包括一容置空间；

测试样品，所述测试样品位于所述容置空间内，所述测试样品在加热炉中加热；

导线，所述导线的一端与所述测试样品连接；

电桥，所述电桥与所述导线的另一端连接，测量所述测试样品的电阻；

温度测量单元，所述温度测量单元与所述测试样品连接，测量所述测试样品的温度。

2.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述装置还包括:

螺栓，所述导线的一端通过螺栓与所述测试样品连接。

3.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述加热炉为马弗炉。

4.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述温度测量单元包括：

热电偶，所述热电偶贴于所述测试样品表面，测量所述测试样品的温度。

5.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述温度测量单元包括：

红外测温仪，所述红外测温仪测量所述测试样品的温度。

6.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述电桥为YD2512型电桥。

7.一种电阻温度系数测量方法，用于测量电热合金的电阻温度系数，其特征在于，所述方法包括：

将测试样品置于权利要求1-6任意一项所述的装置中；

使用所述装置测量得到环境温度t₀℃时测试样品的电阻值R_t0，其中，R_t0为温度为t₀℃时测试样品的电阻值，t₀℃为环境温度；

使用所述装置将所述测试样品加热至温度t ℃后，在t ℃的温度环境下保温Δt分钟，其中，所述t为正数，Δt为正数；

使用所述装置测量得到t ℃时所述测试样品的电阻值R_t，其中，所述R_t为温度为t ℃时测试样品的电阻值；

通过公式获得测试样品的电阻温度系数，其中，所述R_t为温度为t ℃时测试样品的电阻值。