[发明专利]一种导电比色皿及其制造方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种导电比色皿及其制造方法。

背景技术

在某些化学分析中，需要在进行光谱学分析的同时，能进行电化学处理或者测量，这就要求比色皿中具备电极材料。而目前多为薄层光谱电化学池，这在研究物质电化学反应机理等方面具有独特的优势。但是，由于其薄层设计，导致电解过程中若形成气泡则很容易滞留于光路当中，造成电化学和光谱测量的严重误差。同时由于薄层设计的特殊性，不少光谱电化学池无法直接放入公知技术的光谱仪中使用，需要对仪器进行一定的改装。此外，在很多领域，如环境污染物的电化学降解研究中，需要对一定量的溶液进行降解，并同时检测溶液的光谱变化，而这时薄层设计是不合适的。

有人将电极直接置于比色皿中，但电极的存在会对吸光度的测量带来一定的影响。也有出现将玻璃镀膜材料用于比色皿中的技术，如在原有比色皿中黏贴上一个氟掺杂锡氧化物导电玻璃作为电极，这样的问题是氟掺杂锡氧化物导电玻璃的侧面会对吸光度的测量产生严重的影响，而且测量结果与氟掺杂锡氧化物导电玻璃黏贴的角度有很大关系。而且作为参比比色皿，对导电材料的黏贴角度和位置也要求和测量比色皿高度一致，否则会带来较大的误差。此外，如果采用将氧化铟锡导电玻璃或者氟掺杂锡氧化物导电玻璃黏贴于比色皿内部的方法，比色皿的清洗将不够方便，而如果用超声，又可能会使得粘结的部位发生部分脱落，从而导致测量时气泡或者角度变化。

因此，现有技术中光电检测的比色皿，或是结构较为复杂，需要对原有的光度计进行一定的系统加装，或是清洗不易、检测有误差，不容易操作，不具有实用性。

发明内容

本发明要解决的技术问题，在于提供一种导电比色皿及其制造方法，该导电比色皿可以在对比色皿内溶液进行电化学处理的同时检测光信号，并且能解决现有具有导电功能的比色皿存在的结构复杂、不容易操作以及检测有误差的问题。

本发明之一是这样实现的：一种导电比色皿，包括一底面、一第一侧壁、一第二侧壁、一第三侧壁以及一第四侧壁；所述底面、一第一侧壁、一第二侧壁、一第三侧壁以及一第四侧壁围成一矩形容器；所述第一侧壁与所述第三侧壁相对，且第一侧壁以及第三侧壁为透光；所述第二侧壁与所述第四侧壁相对，且第二侧壁与所述第四侧壁为非透光；所述第二侧壁以及第四侧壁上设有导电极。

进一步地，所述第一侧壁与第三侧壁高度相等，所述第二侧壁与第四侧壁高度相等；所述第二侧壁的高度高于第一侧壁的高度。

进一步地，所述第二侧壁的高度高于第一侧壁的高度5～20mm。

进一步地，所述第二侧壁高于第一侧壁的部分覆盖焊锡、金膜、铂膜、导电胶带以及导电铜箔中的任意一种或多种，且连接至所述第二侧壁的导电极。

进一步地，所述第四侧壁高于第一侧壁的部分覆盖焊锡、金膜、铂膜、导电胶带以及导电铜箔中的任意一种或多种，且连接至所述第四侧壁的导电极。

本发明之二是这样实现的：一种导电比色皿的制造方法，包括一底面、一第一侧壁、一第二侧壁、一第三侧壁以及一第四侧壁；所述第一侧壁与所述第三侧壁相对，且第一侧壁以及第三侧壁为透光；所述第二侧壁与所述第四侧壁相对，且第二侧壁与所述第四侧壁为非透光；所述第二侧壁以及第四侧壁上设有导电极；具体包括如下步骤：

所述底面、一第一侧壁、一第二侧壁、一第三侧壁以及一第四侧壁通过粘合围成一矩形容器。

进一步地，将第一侧壁、第二侧壁、第三侧壁以及第四侧壁的两个侧面均打磨成相互配合的斜角，然后使用粘结剂将第一侧壁、第二侧壁、第三侧壁以及第四侧壁依次粘接成一柱状体，之后将该柱状体的一侧面使用粘结剂连接底面形成比色皿。

进一步地，所述制造方法具体为：所述斜角等于45°。

进一步地，所述第一侧壁与第三侧壁高度相等，所述第二侧壁与第四侧壁高度相等；所述第二侧壁的高度高于第一侧壁的高度。

进一步地，所述第二侧壁的高度高于第一侧壁的高度5～20mm。

进一步地，所述第二侧壁高于第一侧壁的部分覆盖焊锡、金膜、铂膜、导电胶带以及导电铜箔中的任意一种或多种，且连接至所述第二侧壁的导电极。

进一步地，所述第四侧壁高于第一侧壁的部分覆盖焊锡、金膜、铂膜、导电胶带以及导电铜箔中的任意一种或多种，且连接至所述第四侧壁的导电极。

本发明具有如下优点：

1、本发明将导电材料直接用于比色皿的非透光面，可以方便地进行电化学处理或测量，原有的透光材料形成的透光面也能检测光信号，从而满足在某些化学分析中，需要在进行光谱学分析的同时，能进行电化学处理或者测量的需求。