[发明专利]基于阻挡层调制结构的电流孔径功率晶体管及其制作方法有效
申请号: | 201710197643.3 | 申请日: | 2017-03-29 |
公开(公告)号: | CN107146811B | 公开(公告)日: | 2019-12-10 |
发明(设计)人: | 毛维;石朋毫;王海永;郝跃;艾治州;马晓华;张弘 | 申请(专利权)人: | 西安电子科技大学 |
主分类号: | H01L29/06 | 分类号: | H01L29/06;H01L29/20;H01L29/778;H01L21/335 |
代理公司: | 61205 陕西电子工业专利中心 | 代理人: | 王品华 |
地址: | 710071*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 阻挡 调制 结构 电流 孔径 功率 晶体管 及其 制作方法 | ||
1.一种基于阻挡层调制结构的电流孔径功率晶体管,包括:衬底(1)、漂移层(2)、电流孔径层(3)、两个对称的电流阻挡层(4)、沟道层(6)、势垒层(7)和钝化层(12),势垒层(7)上淀积有栅极(10),势垒层(7)上的两侧淀积有两个源极(9),每个源极的下方设有注入区(8),衬底(1)下面淀积有漏极(11),两个对称的电流阻挡层(4)之间形成孔径(5),钝化层(12)完全包裹在除漏极底部以外的所有区域外面,其特征在于:
所述电流孔径层(3),是由自下而上的第一孔径层(31)至第m孔径层(3m)所构成的多层结构;
所述电流阻挡层(4),是由自下而上的第一阻挡层(41)至第m阻挡层(4m)所构成的m级阶梯结构,且第一阻挡层(41)的厚度与第一孔径层(31)的厚度相同,第二阻挡层(42)的厚度与第二孔径层(32)的厚度相同,第m阻挡层(4m)的厚度与第m孔径层(3m)的厚度相同。
2.根据权利要求1所述的电流孔径功率晶体管,其特征在于电流阻挡层(4)的阶梯结构的级数m是根据器件实际使用要求确定,其值为大于等于2的整数。
3.根据权利要求1所述的电流孔径功率晶体管,其特征在于第一阻挡层(41)的厚度T1为1~3μm,第一阻挡层(41)的宽度S1为0.5~1μm。
4.根据权利要求1所述的电流孔径功率晶体管,其特征在于第二阻挡层(42)至第m阻挡层(4m)的厚度为Ti,宽度为Si,且自下而上满足关系式:T2≥...≥Ti≥...≥Tm,S2≤...≤Si≤…≤Sm,T1≥T2,S1≤S2,i为整数且m≥i≥2。
5.根据权利要求1所述的电流孔径功率晶体管,其特征在于第一阻挡层(41)至第m阻挡层(4m)均采用p型掺杂。
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