[发明专利]一种诊断超短脉冲聚焦场时空分布特性的方法有效
申请号: | 201710190809.9 | 申请日: | 2017-03-28 |
公开(公告)号: | CN106918395B | 公开(公告)日: | 2019-01-22 |
发明(设计)人: | 左言磊;曾小明;周凯南;王逍;吴朝晖;王晓东;黄小军;谢娜;母杰;蒋东镔;周松;郭仪;孙立;黄征;粟敬钦 | 申请(专利权)人: | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 |
主分类号: | G01J11/00 | 分类号: | G01J11/00 |
代理公司: | 绵阳市博图知识产权代理事务所(普通合伙) 51235 | 代理人: | 邓昉 |
地址: | 621000*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 诊断 超短 脉冲 聚焦 时空 分布 特性 方法 | ||
1.一种诊断超短脉冲聚焦场时空分布特性的方法,其特征在于,包括以下步骤:
(1)待测信号光成像,其光路为:超短脉冲激光经第一半透半反镜分光后的透射光作为待测信号光,所述待测信号光经透镜组扩束后聚焦,然后通过单模光纤采样,耦合后的光再经第一准直透镜输出,最后经第三平面反射镜反射以及第二半透半反镜透射后,其透射光入射到成像光谱仪中进行成像;
(2)参考光成像,其光路为:超短脉冲激光经第一半透半反镜分光后的反射光作为参考光,所述参考光经第一反射镜反射后原路返回第一半透半反镜,再经第二反射镜反射后由消色差透镜聚焦到单模光纤,然后经第二准直透镜准直后由第二半透半反镜透射反射后,其反射光入射到成像光谱仪中进行成像,得到干涉图案;
(3)根据所述成像光谱仪采集到的干涉图案获得采样点处的待测信号光相对于参考光的时间延迟量,利用微位移平台的二维扫描获得对于水平和垂直方向上的采样,从而获得待测信号光聚焦场在水平和垂直两个方向上的时空分布;
其中,根据所述成像光谱仪采集到的干涉图案获得采样点处的待测信号光相对于参考光的时间延迟量的方法为:预先利用光谱干涉技术测量第一准直透镜输出的待测信号光的剩余二阶色散,确定待测信号光中单位波长对应的时间延迟量;根据成像光谱仪采集到的干涉图案,可以读出零相位延迟点的位置,进一步得到其相对于中心波长的偏移量,该偏移量乘以单位波长对应的时间延迟量,即得到采样点相对于参考光的时间延迟量;
所述获得待测信号光聚焦场在水平和垂直两个方向上的时空分布的方法为:将微位移平台沿水平或垂直方向移动,记录不同的空间位置处对应的时间延迟量,在坐标系内连接各有效数值点,即可得到待测信号光聚焦场在该方向上的时空分布信息。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于:步骤(1)和(2)所述超短脉冲激光由钛宝石激光振荡器产生。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于:步骤(1)中的透镜组包括第一透镜和第二透镜,所述第二透镜位于第一透镜之后,并且直径大于第一透镜。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于:步骤(1)的待测信号光光路与步骤(2)参考光光路的附加元件引入的附加色散一致。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于:所述单模光纤芯径为5.5-6.5μm;所述微位移平台的步长为0.8-1.2μm。
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