[发明专利]内嵌式触控显示装置以及相关测试系统与测试方法

说明书

本发明公开了一种内嵌式触控显示装置，具有触控显示区与周边区，内嵌式触控显示装置包括第一基板、第二基板、多条扫描线、多条数据线、多个触控电极以及多个基板连接垫。第二基板与第一基板相对设置。扫描线与数据线设置在第一基板上且位于触控显示区内。触控电极位于第一基板与第二基板之间，并位于触控显示区内。基板连接垫设置在第一基板上且位于周边区内，并且基板连接垫包括多个第一连接垫以及多个第二连接垫，第一连接垫分别与数据线的其中一条电连接，第二连接垫分别与触控电极的其中一个电连接。其中第一连接垫与第二连接垫分别都具有接合部以及延伸部，接合部的面积小于延伸部的面积。

技术领域

本发明涉及一种内嵌式触控显示装置、内嵌式触控显示装置测试系统以及内嵌式触控显示装置测试方法，特别是涉及一种可供独立测试触控功能与显示功能的内嵌式触控显示装置、内嵌式触控显示装置测试系统以及内嵌式触控显示装置测试方法。

背景技术

在各式电子产品中，显示屏幕已广泛的搭配使用触控组件而形成触控显示装置，藉此让使用户可直接与电子产品沟通而取代键盘与鼠标等传统输入设备，以缩减电子产品的体积并提升人机在沟通上的便利性，而现今产业目前致力于开发一种将触控组件设置在显示板中的内嵌式(in-cell)触控显示装置，以达到触控显示装置的最小化。

然而，在内嵌式触控显示装置的制作过程中，仍会有因制作上的缺陷而导致内嵌式触控显示装置无法正常工作，因此须对内嵌式触控显示装置进行测试，目前一般常使用短路棒测试方法(shorting bar)或是薄膜晶体管开关测试方法(switching TFT)并同时搭配外部的测试设备进行测试，但由于上述测试方法须额外多设置测试线路或测试薄膜晶体管，因此会影响内嵌式触控显示装置中电路的负载，进而影响内嵌式触控显示装置触控功能、显示功能以及产品的生产成本，其中在较大尺寸的内嵌式触控显示装置中影响尤甚，故仍须提供一种较佳的内嵌式触控显示装置的测试方法。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是现有技术中内嵌式触控显示装置的测试问题，本发明藉由提供具有特殊设计的基板连接垫的内嵌式触控显示装置以及对应的测试系统与测试方法，以解决上述技术问题。

本发明提供一种内嵌式触控显示装置，其基板连接垫具有面积相较于接合部与芯片连接垫较大的延伸部，以提供与测试系统接触而电连接的空间，达到可独立探测电子组件以测试触控功能与显示功能的目的。

本发明还提供一种内嵌式触控显示装置测试系统，其测试盘的导电针脚在测试时可对应接触本发明所提供的内嵌式触控显示面板的延伸部，以独立探测内嵌式触控显示装置的电子组件。

本发明更提供一种内嵌式触控显示装置测试方法，其透过本发明的内嵌式触控显示装置测试系统对本发明的内嵌式触控显示装置进行触控显示测试，以独立探测内嵌式触控显示装置的电子组件，进行触控功能与显示功能的检测。

为解决上述技术问题，本发明提供了一种内嵌式触控显示装置，具有触控显示区与周边区，内嵌式触控显示装置包括第一基板、第二基板、多条扫描线、多条数据线、多个触控电极以及多个基板连接垫。第二基板与第一基板相对设置。扫描线与数据线设置在第一基板上且位于触控显示区内。触控电极位于第一基板与第二基板之间，并位于触控显示区内。基板连接垫设置在第一基板上且位于周边区内，并且基板连接垫包括多个第一连接垫以及多个第二连接垫，第一连接垫分别与数据线的其中一条电连接，第二连接垫分别与触控电极的其中一个电连接。其中第一连接垫与第二连接垫分别都具有接合部以及延伸部，接合部的面积小于延伸部的面积。