[发明专利]磁体系统及核磁共振探测装置有效

专利信息
申请号: 201710166451.6 申请日: 2017-03-20
公开(公告)号: CN107144804B 公开(公告)日: 2019-11-19
发明(设计)人: 肖立志;孙哲;廖广志;李新;罗嗣慧 申请(专利权)人: 中国石油大学(北京)
主分类号: G01R33/38 分类号: G01R33/38
代理公司: 11205 北京同立钧成知识产权代理有限公司 代理人: 张洋;黄健<国际申请>=<国际公布>=<
地址: 102249*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 磁体 系统 核磁共振 探测 装置
【说明书】:

发明提供一种磁体系统及核磁共振探测装置,其中,磁体系统包括:第一磁体单元,包括第一框架和第一磁条,第一磁条设置在第一框架内且能够产生第一梯度磁场;第二磁体单元,包括第二框架和多个第二磁条,第二框架的一侧设有安装槽,多个第二磁条设置在第二框架内,多个第二磁条沿安装槽的周向间隔设置,多个第二磁条能够产生第二梯度磁场;其中,第二框架能够通过安装槽正向套设在第一框架外侧以与第一框架正向组合,多个第二磁条能够在第二框架与第一框架正向组合的状态下围绕第一磁条设置,且第一梯度磁场与第二梯度磁场矢量方向相反以形成第一均匀磁场。本发明可提高核磁共振探测装置的通用性及探测效果。

技术领域

本发明涉及核磁共振检测技术,尤其涉及一种磁体系统及核磁共振探测装置。

背景技术

核磁共振检测技术是利用核磁共振原理探测氢原子的技术。通过探测被测物内氢原子的含量和赋存状态,能够获得被测物内各种成分的信息。目前小型单边核磁共振系统,因其体型小巧,便于测量,并且不受到样品位置和大小的限制等诸多优点而被广泛应用。

现有的小型单边核磁共振系统包括核磁共振探测装置,核磁共振探测装置包括磁体和天线,其中,磁体用于在被测物中产生静磁场,以对被测物中的氢原子进行极化;天线用于向被测物发射射频脉磁场脉冲,激发被测物中已经被静磁场极化的氢原子,以此来产生核磁共振现象,同时还用于接收和采集所产生的核磁共振信号。

然而,现有的核磁共振探测装置中的磁体只能产生梯度磁场或只能产生均匀磁场,在磁体只能产生梯度磁场的情况下,核磁共振探测装置对均质性样品探测效果较差,而在磁体只能产生均匀磁场的情况下,核磁共振探测装置对层状等非均质样品探测效果较差,因此,通用性较差,探测效果不佳。

发明内容

本发明提供一种磁体系统及核磁共振探测装置,以提高核磁共振探测装置的通用性及探测效果。

本发明一方面提供一种磁体系统,包括:

第一磁体单元,包括第一框架和第一磁条,所述第一磁条设置在所述第一框架内且能够产生第一梯度磁场;

第二磁体单元,包括第二框架和多个第二磁条,所述第二框架的一侧设有安装槽,多个所述第二磁条设置在所述第二框架内,多个所述第二磁条沿所述安装槽的周向间隔设置,多个所述第二磁条能够产生第二梯度磁场;

其中,所述第二框架能够通过所述安装槽正向套设在所述第一框架外侧以与所述第一框架正向组合,多个所述第二磁条能够在所述第二框架与所述第一框架正向组合的状态下围绕所述第一磁条设置,且所述第一梯度磁场与所述第二梯度磁场矢量方向相反以形成第一均匀磁场。

本发明另一方面提供一种核磁共振探测装置,包括天线和本发明所提供的磁体系统;所述磁体系统用于在被测物中产生静磁场,以对所述被测物中的氢原子进行极化;所述天线用于向所述被测物发射射频脉磁场脉冲,以激发被测物中已经被极化的氢原子,从而产生核磁共振现象。

基于上述,本发明提供的磁体系统,可应用在核磁共振探测装置中,当需要利用核磁共振探测装置对层状等非均质样品进行探测时,可利用第一磁体单元产生第一梯度磁场或利用第二磁体单元产生第二梯度磁场,以通过第一梯度磁场或第二梯度磁场对非均质样品中的氢原子进行极化,再通过天线向非均质样品发射射频脉磁场脉冲,以激发非均质样品中已经被极化的氢原子,从而产生核磁共振现象,完成对非均质样品的探测。当需要利用核磁共振探测装置对均质性样品进行探测时,可将第一磁体单元的第一框架和第二磁体单元的第二框架正向组合,从而产生第一均匀磁场,以通过第一均匀磁场对均质性样品中的氢原子进行极化,再通过天线向均质性样品发射射频脉磁场脉冲,以激发均质性样品中已经被极化的氢原子,从而产生核磁共振现象,完成对均质性样品的探测。由于磁体系统能够产生梯度磁场和均匀磁场,因此使核磁共振探测装置既能够对非均质样品进行有效探测也能够对均质性样品进行有效探测,因此提高了核磁共振探测装置的通用性及探测效果。

附图说明

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国石油大学(北京),未经中国石油大学(北京)许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201710166451.6/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top