[发明专利]磁体系统及核磁共振探测装置

权利要求书

1.一种磁体系统，其特征在于，包括：

第一磁体单元，包括第一框架和第一磁条，所述第一磁条设置在所述第一框架内且能够产生第一梯度磁场；

第二磁体单元，包括第二框架和多个第二磁条，所述第二框架的一侧设有安装槽，多个所述第二磁条设置在所述第二框架内，多个所述第二磁条沿所述安装槽的周向间隔设置，多个所述第二磁条能够产生第二梯度磁场；

其中，所述第二框架能够通过所述安装槽正向套设在所述第一框架外侧以与所述第一框架正向组合，多个所述第二磁条能够在所述第二框架与所述第一框架正向组合的状态下围绕所述第一磁条设置，且所述第一梯度磁场与所述第二梯度磁场矢量方向相反以形成第一均匀磁场。

2.根据权利要求1所述的磁体系统，其特征在于，所述第一梯度磁场的强度参数、均匀度参数、梯度参数和探测体积参数与第二梯度磁场的强度参数、均匀度参数、梯度参数和探测体积参数均不相同。

3.根据权利要求1或2所述的磁体系统，其特征在于，所述第二框架能够通过所述安装槽反向套设在所述第一框架外侧以与所述第一框架反向组合，多个所述第二磁条能够在所述第二框架与所述第一框架反向组合的状态下围绕所述第一磁条设置，且所述第一梯度磁场与所述第二梯度磁场矢量方向相同以形成第三梯度磁场。

4.根据权利要求3所述的磁体系统，其特征在于，所述磁体系统还包括第三磁体单元，所述第三磁体单元包括第三框架和第三磁条，所述第三磁条设置在所述第三框架内且能够产生第四梯度磁场，所述第二框架能够通过所述安装槽套设在所述第三框架外侧以与所述第三框架组合，多个所述第二磁条能够在所述第二框架与所述第三框架组合的状态下围绕所述第三磁条设置，且所述第二梯度磁场与所述第四梯度磁场矢量方向相反以形成第二均匀磁场，所述第二均匀磁场的强度参数和探测体积参数与所述第一均匀磁场的强度参数和探测体积参数均不相同。

5.根据权利要求4所述的磁体系统，其特征在于，所述第四梯度磁场的强度参数、均匀度参数、梯度参数和探测体积参数与所述第一梯度磁场、第二梯度磁场和第三梯度磁场的强度参数、均匀度参数、梯度参数和探测体积参数均不相同。

6.根据权利要求1所述的磁体系统，其特征在于，所述安装槽的两侧设有卡持件，所述第一框架的两侧设有第一卡持部，所述卡持件能够在所述第二框架通过所述安装槽套设在所述第一框架外侧的状态下与所述第一卡持部相卡持，以使所述第二框架与所述第一框架相对定位。

7.根据权利要求4所述的磁体系统，其特征在于，所述安装槽的两侧设有卡持件，所述第三框架的两侧设有第二卡持部，所述卡持件能够在所述第二框架通过所述安装槽套设在所述第三框架外侧的状态下与所述第二卡持部相卡持，以使所述第二框架与所述第三框架相对定位。

8.一种核磁共振探测装置，其特征在于，包括天线和权利要求1-7中任一所述的磁体系统；

所述磁体系统用于在被测物中产生静磁场，以对所述被测物中的氢原子进行极化；

所述天线用于向所述被测物发射射频脉磁场脉冲，以激发被测物中已经被极化的氢原子，从而产生核磁共振现象。