[发明专利]传感器、对准控制单元、多色印刷系统以及对准标记的检测方法有效
申请号: | 201710134205.2 | 申请日: | 2017-03-08 |
公开(公告)号: | CN107175908B | 公开(公告)日: | 2019-12-10 |
发明(设计)人: | 木岛将宏 | 申请(专利权)人: | 住友重机械工业株式会社 |
主分类号: | B41F33/14 | 分类号: | B41F33/14;B41F33/00;G01N21/17 |
代理公司: | 72002 永新专利商标代理有限公司 | 代理人: | 夏斌 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 传感器 对准 控制 单元 多色 印刷 系统 以及 标记 检测 方法 | ||
1.一种对准控制单元,其特征在于,具备:
受光元件,具有光谱灵敏度特性不同的多个光电转换区域;
对准标记检测部,基于来自上述多个光电转换区域的信号,对设置于基底的对准标记进行检测;以及
信号反转部,设置于上述受光元件与上述对准标记检测部之间,用于使分别来自上述多个光电转换区域的信号相对于各自的基准值反转,以使上述对准标记相对于上述基底的信号强度的大小关系一致,
上述信号反转部对于分别来自上述多个光电转换区域的信号,在与基底相比对准标记的信号强度更大的信号多的情况下,使与基底相比对准标记的信号强度更小的信号反转,在与基底相比对准标记的信号强度更小的信号多的情况下,使与基底相比对准标记的信号强度更大的信号反转。
2.一种对准控制单元,其特征在于,具备:
受光元件,具有光谱灵敏度特性不同的多个光电转换区域;
对准标记检测部,基于来自上述多个光电转换区域的信号,对设置于基底的对准标记进行检测;以及
信号反转部,设置于上述受光元件与上述对准标记检测部之间,用于使分别来自上述多个光电转换区域的信号相对于各自的基准值反转,以使上述对准标记相对于上述基底的信号强度的大小关系一致,
上述信号反转部使分别来自上述多个光电转换区域的信号中的与基底相比对准标记的信号强度更小的信号反转。
3.一种对准控制单元,其特征在于,具备:
受光元件,具有光谱灵敏度特性不同的多个光电转换区域;
对准标记检测部,基于来自上述多个光电转换区域的信号,对设置于基底的对准标记进行检测;以及
信号反转部,设置于上述受光元件与上述对准标记检测部之间,用于使分别来自上述多个光电转换区域的信号相对于各自的基准值反转,以使上述对准标记相对于上述基底的信号强度的大小关系一致,
上述基准值是信号强度的最大值与最小值的中间值。
4.如权利要求1至3任一项所述的对准控制单元,其特征在于,
上述信号反转部构成为,使来自上述多个光电转换区域的信号中的被从外部指示的信号反转。
5.一种多色印刷系统,其特征在于,
具备权利要求1至4中任一项所述的对准控制单元。
6.一种对准标记的检测方法,其特征在于,包括:
朝对准标记通过的范围照射光,通过具有光谱灵敏度特性不同的多个光电转换区域的受光元件接受来自基底的光的步骤;
使来自上述多个光电转换区域的信号中的被从外部指定的信号相对于基准值反转,以使上述对准标记相对于上述基底的信号强度的大小关系一致的反转步骤;以及
基于来自上述多个光电转换区域的信号对设置于基底的对准标记进行检测的步骤,
在上述反转步骤中,对于分别来自上述多个光电转换区域的信号,在与所述基底相比对准标记的信号强度更大的信号多的情况下,使与基底相比对准标记的信号强度更小的信号反转,在与基底相比对准标记的信号强度更小的信号多的情况下,使与基底相比对准标记的信号强度更大的信号反转。
7.一种对准标记的检测方法,其特征在于,包括:
朝对准标记通过的范围照射光,通过具有光谱灵敏度特性不同的多个光电转换区域的受光元件接受来自基底的光的步骤;
使来自上述多个光电转换区域的信号中的被从外部指定的信号相对于基准值反转,以使上述对准标记相对于上述基底的信号强度的大小关系一致的反转步骤;以及
基于来自上述多个光电转换区域的信号对设置于基底的对准标记进行检测的步骤,
在上述反转步骤中,使分别来自上述多个光电转换区域的信号中的与基底相比对准标记的信号强度更小的信号反转。
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