[发明专利]基于转筒螺旋线孔取样的激光光束质量测量装置和方法有效
| 申请号： | 201710132113.0 | 申请日： | 2017-03-07 |
| 公开（公告）号： | CN106918446B | 公开（公告）日： | 2019-06-07 |
| 发明（设计）人： | 杨鹏翎;陈绍武;王振宝;冯国斌;赵海川;吴勇;王飞;冯刚;张磊 | 申请（专利权）人： | 西北核技术研究所 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人： | 王少文 |
| 地址： | 710024 陕*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 基于 螺旋线 取样 激光 光束 质量 测量 装置 方法 | ||
【权利要求书】：
1.基于转筒螺旋线孔取样的激光光束质量测量方法，其特征在于，包括以下步骤：
1)待测量激光束(1)穿过匀速转动转筒筒壁上的多组沿转轴(5)轴线方向呈螺旋线排布的取样孔(2)；所述的取样孔(2)的中心线与转轴(5)轴线垂直相交，取样孔(2)的孔径小于待测量激光束(1)的尺度；
2)光电探测器对穿过每只取样孔的激光束进行高速重叠取样测量，获取激光束在不同取样位置处的功率值；
3)数据采集处理单元记录并处理光电探测器在一个扫描周期内的系列光功率值，根据采集时间与转筒转动时取样孔的位置关系，获取每个光束扫描周期内的最大光强值，即为该时段内的桶中功率值，实现PIB参数测量。
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