[发明专利]一种精密加工成形系统在审
申请号: | 201710072444.X | 申请日: | 2017-02-10 |
公开(公告)号: | CN107976960A | 公开(公告)日: | 2018-05-01 |
发明(设计)人: | 刘向荣 | 申请(专利权)人: | 湘潭智联技术转移促进有限责任公司 |
主分类号: | G05B19/414 | 分类号: | G05B19/414 |
代理公司: | 上海精晟知识产权代理有限公司31253 | 代理人: | 张超宇,冯子玲 |
地址: | 410100 湖南省湘潭*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 精密 加工 成形 系统 | ||
1.一种精密加工成形系统,其特征在于:包括基于一PCL智能测控系统的多台成形设备,所述PLC智能测控系统将采集到的温度、压力和位移信息,计算得到最优的成形温度、压力和位移参数反馈至第一成形设备,所述第一成形设备利用最优成形温度、压力和位移参数针对毛坯件执行预制造以得到半成品,而后由所述PLC集成控制系统来测量并分析预制造的所述半成品并将其分析结果与理想值之间的偏差用作温度、压力和位移参数的调整指标,用以示教用于执行批量生产的第二成形设备。
2.如权利要求1所述的精密加工成形系统,其特征在于:所述PLC智能测控系统包括有待加工产品设计要求的产品信息模块、数据采集模块、保护系统模块、通信模块、参考产品数据库模块、数据处理控制模块和产品测试模块,
所述参考产品数据库模块,用于管理储存各种优质合格机械基础件尺寸、机械性能和力学性能参数,以及制造过程中所用的工艺参数。
3.如权利要求1所述的精密加工成形系统,其特征在于:所述成形设备包括有制造机、温度传感器、压力传感器、位置传感器、分布式A/D采集模块和分布式数字量输入输出模块,
所述制造机,用于机械基础件加工,完成托模、移膜、锁模、注胶、加温、加压和自动脱模成形工序;
所述温度传感器、压力传感器和位移传感器与所述制造机相连,分别采集制造机工作时的温度、压力和位移数据;
所述分布式A/D采集模块与所述温度传感器、压力传感器和位移传感器相连,将温度传感器、压力传感器和位移传感器采集到的模拟信号数据转换为数字信号;
所述分布式数字量输入输出模块与制造机相连,用于将数据处理控制模块发出的所述最优参数信息转换的制造机能执行的行动控制指令发送至制造机,用以控制制造机产品制造。
4.如权利要求1所述的精密加工成形系统,其特征在于:所述第一成形设备还可以基于所采集的压力信息来调整压力参数,以便示教用于批量生产的第二成形设备。
5.如权利要求4所述的精密加工成形系统,其特征在于:所述PLC集成控制系统基于所述第一成形设备预制造的半成品压力参数调整指标和产品设计要求,用于控制第二成形设备完成第二毛坯件预制造,而后由所述PLC集成控制系统来测量并分析第二成形设备预制造的半成品,并将其与理想值的偏差用作下一次压力参数的调整指标,直到成型设备预制造的半成品达到合格产品要求偏差范围之内时,所用温度、压力和位移参数定为批量生产的生产参数。
6.如权利要求1所述的精密加工成形系统,其特征在于:所述第一成形设备还可以基于所采集的温度信息来调整温度参数,以便示教用于批量生产的第二成形设备。
7.如权利要求6所述的精密加工成形系统,其特征在于:所述PLC集成控制系统基于所述第一成形设备预制造的半成品温度参数调整指标和产品设计要求,用于控制第二成形设备完成第二毛坯件预制造,而后由所述PLC集成控制系统来测量分析第二成形设备预制造的半成品,并将其与理想值的偏差用作下一次温度参数的调整指标,直到成型设备预制造的半成品达到合格产品要求偏差范围之内时,所用温度、压力和位移参数定为批量生产的生产参数。
8.如权利要求1所述的精密加工成形系统,其特征在于:所述第一成形设备还可以基于所采集的位移信息来调整位移参数,以便示教用于批量生产的第二成形设备。
9.如权利要求8所述的精密加工成形系统,其特征在于:所述PLC集成控制系统基于所述第一成形设备预制造的半成品位移参数调整指标和产品设计要求,用于控制第二成形设备完成第二毛坯件预制造,而后由所述PLC集成控制系统来分析测量第二成形设备预制造的半成品,并将其与理想值的偏差用作下一次位移参数的调整指标,直到成型设备预制造的半成品达到合格产品要求偏差范围之内时,所用温度、压力和位移参数定为批量生产的生产参数。
10.如权利要求9所述的精密加工成形系统,其特征在于:所述PLC智能测控系统还包括有人机对话设备,连接数据处理控制模块的人机对话接口,用于向数据处理控制模块发送控制命令及显示命令执行结果。
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