[发明专利]X射线检测器复位控制电路有效
| 申请号: | 201710051018.8 | 申请日: | 2017-01-20 |
| 公开(公告)号: | CN107238619B | 公开(公告)日: | 2020-07-21 |
| 发明(设计)人: | M·巴特亚尼 | 申请(专利权)人: | 奥林巴斯科技美国公司 |
| 主分类号: | G01N23/223 | 分类号: | G01N23/223 |
| 代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇 |
| 地址: | 美国马*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 射线 检测器 复位 控制电路 | ||
1.一种用于X射线分析仪的X射线检测器复位控制电路,所述X射线分析仪被配置为感应和分析感应到的X射线事件的序列,所述X射线检测器复位控制电路包括:
X射线检测器,其被配置为检测感应到的X射线事件,并发送表示所述X射线事件的检测器模拟电压响应信号;
电荷灵敏前置放大器,其连接到所述X射线检测器,并被配置为放大所述检测器模拟电压响应信号并产生放大信号;
模拟数字转换器即ADC,用于对所述放大信号进行数字化,所述ADC具有ADC输出电平并产生与所述X射线事件相对应的数字信号值的序列,所述数字信号值的序列导致所述ADC输出电平的阶梯状增高;
微复位决定模块和微复位单元,其中所述微复位决定模块被配置为基于至少两个复位逻辑标准中的一个复位逻辑标准来得到用以触发复位的复位决定,并且所述微复位单元基于所述复位决定来进行所述复位,其中所述复位用于使所述ADC输出电平降低了电荷复位下降;以及
脉冲指示器,其用于产生表示所述X射线事件中的各X射线事件的高速脉冲定时信号,
其中,所述至少两个复位逻辑标准包括以下标准:
a)高电平复位标准,其中对于所述高电平复位标准,所述ADC输出电平已超过高电平阈值,并且从最近的高速脉冲定时信号开始经过了预定的波峰时间tp;
b)堆叠复位标准,其中对于所述堆叠复位标准,所述X射线事件中的两个X射线事件的相应的高速脉冲定时信号处于所述波峰时间tp之内,
其中,所述微复位单元进行的所述复位能够仅在所述电荷灵敏前置放大器的整个电压范围中与所述ADC的整个位范围的仅一部分相对应的一部分上出现。
2.根据权利要求1所述的X射线检测器复位控制电路,其中,所述X射线检测器复位控制电路连接有谱生成器,所述谱生成器用于从所述ADC接收所述数字信号值的序列。
3.根据权利要求1所述的X射线检测器复位控制电路,其中,所述波峰时间tp表示在相应的高速脉冲定时信号之后建立所述ADC输出电平所需的时间段。
4.根据权利要求3所述的X射线检测器复位控制电路,其中,在所述ADC输出电平已超过所述高电平阈值、并且从最近的高速脉冲定时信号开始经过了所述波峰时间tp之后,所述微复位决定模块触发所述复位。
5.根据权利要求3所述的X射线检测器复位控制电路,其中,在所述波峰时间tp之内出现表示多于一个高速脉冲定时信号的堆叠事件的情况下,所述微复位决定模块触发所述复位。
6.根据权利要求1所述的X射线检测器复位控制电路,其中,所述微复位决定模块还包括低电平阈值,并且所述微复位决定模块被配置为在所述ADC输出电平低于所述低电平阈值的情况下忽略所述复位决定。
7.根据权利要求1所述的X射线检测器复位控制电路,其中,所述电荷复位下降针对每次复位是固定值。
8.根据权利要求1所述的X射线检测器复位控制电路,其中,所述电荷复位下降是依赖于所述ADC输出电平的值的可变值。
9.根据权利要求1所述的X射线检测器复位控制电路,其中,所述电荷复位下降是由作为所述微复位单元的输入的复位时间tR所确定的预定电荷复位下降。
10.根据权利要求9所述的X射线检测器复位控制电路,其中,还包括复位时间调节单元,所述复位时间调节单元用于从所述ADC接收表示每次复位的实际电荷复位下降的数字信号值,所述复位时间调节单元还被配置为提供调节后的复位时间以替代所述复位时间tR,从而将所述复位期间的实际电荷复位下降增高或降低至大致等于所述预定电荷复位下降。
11.根据权利要求1所述的X射线检测器复位控制电路,其中,还包括高速逻辑单元、与门和或门。
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