[发明专利]一种采用聚集诱导发光型荧光传感分子连续检测Cu2+和焦磷酸根的方法

权利要求书

1.一种采用聚集诱导发光型荧光传感分子连续检测Cu²⁺和焦磷酸根的方法，所述聚集诱导发光型荧光传感分子的结构式为：

其特征在于该方法由下述步骤组成：

(1)将聚集诱导发光型荧光传感分子加入去离子水与二甲基亚砜的体积比为8:2混合溶剂中，配制成10^-5mol/L的聚集诱导发光型荧光传感分子溶液；

(2)向10^-5mol/L的聚集诱导发光型荧光传感分子溶液中加入Cu²⁺标准样品，用荧光光谱仪测量在发射波长为500nm处不同浓度Cu²⁺对应体系的荧光强度，绘制荧光强度随Cu²⁺浓度变化的标准曲线；

(3)向10^-5mol/L的聚集诱导发光型荧光传感分子溶液中加入Cu²⁺样品，其中Cu²⁺的加入量为聚集诱导发光型荧光传感分子摩尔量的1倍，再加入焦磷酸根样品，其中焦磷酸根的加入量为聚集诱导发光型荧光传感分子摩尔量的6倍，用荧光光谱仪测量在发射波长为500nm处不同浓度焦磷酸根对应体系的荧光强度，绘制荧光强度随焦磷酸根浓度变化的标准曲线；

(4)按照步骤(2)的方法用荧光光谱仪测量待测Cu²⁺样品的荧光强度，根据待测Cu²⁺样品的荧光强度，结合步骤(2)中标准曲线的线性方程即可高选择性识别Cu²⁺并确定待测样品中Cu²⁺浓度；

(5)根据步骤(4)确定的待测样品中Cu²⁺浓度，再向其中补加Cu²⁺标准样品，使混合体系中Cu²⁺的摩尔量为聚集诱导发光型荧光传感分子摩尔量的1倍，然后加入待测焦磷酸根样品，用荧光光谱仪测量待测焦磷酸根样品的荧光强度，根据待测样品的荧光强度，结合步骤(3)中标准曲线的线性方程即可高选择性识别焦磷酸根并确定待测样品中焦磷酸根的浓度。

2.根据权利要求1所述的采用聚集诱导发光型荧光传感分子连续检测Cu²⁺和焦磷酸根的方法，其特征在于：所述的Cu²⁺标准样品为CuCl₂·2H₂O。

3.根据权利要求1所述的采用聚集诱导发光型荧光传感分子连续检测Cu²⁺和焦磷酸根的方法，其特征在于：所述的焦磷酸根标准样品为K₄P₂O₇·3H₂O。