[发明专利]一种并行CT采集系统有效

专利信息
申请号: 201710038819.0 申请日: 2017-01-19
公开(公告)号: CN106645226B 公开(公告)日: 2020-02-07
发明(设计)人: 佟亚军;杜国浩;邓彪;王玉丹;陈敏;肖体乔 申请(专利权)人: 中国科学院上海应用物理研究所
主分类号: G01N23/046 分类号: G01N23/046
代理公司: 31002 上海智信专利代理有限公司 代理人: 邓琪
地址: 201800 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 并行 ct 采集 系统
【说明书】:

发明公开了一种并行CT采集系统,其用于并行采集射线光束中至少两个样品的扫描信号,其中,所述并行CT采集系统包括:至少两个样品台,所述样品台被设置为用于放置所述样品,且所有所述样品台上放置的样品在所述射线光束的垂直于其入射方向的截面上的投影之间相互不交叠;至少两个视场的射线探测器系统,所述射线探测器系统通过各所述视场分别对应采集各所述样品的扫描信号。本发明所述的并行CT采集系统能并行采集射线光束中尤其是同步辐射X射线中多个样品的扫描信号以分别供多个CT同时使用。由于各样品使用不同区域的射线光束,实验之间互不干扰,成像质量完全一样,即使有一个失败,其余的也可以完成。

技术领域

本发明涉及一种CT(Computed Tomography,计算机断层扫描)系统,尤其涉及一种CT采集系统。

背景技术

同步辐射由于其高亮度,相干性,准直性的特点,非常适合用于高分辨率X射线成像。例如某成像线站采用wiggler(扭摆器)光源,提供50mm×5mm的光斑尺寸,可以对老鼠这样的小动物实现微米级的同轴相位衬度成像,以及一些更小的样品实现亚微米的成像分辨率。由于探测器发展的限制,高探测分辨率与大视场尺寸不可同时兼得,因此当实现高分辨率时实际观测的视场范围只有1mm×1mm甚至更小,此时大量X射线被浪费。针对这种情况,如果能够让多个样品和多个探测器同时分享X射线,就意味着可以充分利用X射线,充分利用稀缺的同步辐射资源。

现有技术中有采用同一个探测器,多个样品串联放置进行实验的方案,该实验方法虽然把效率加倍,但是也存在很多问题,首先前后放置的样品使用同一区域的X射线互相干扰,如果有一个样品吸收极大,后续样品就会被掩盖,前面的样品对X射线的散射作用会使后面样品的成像质量大幅降低。另外如果一个样品出现移动等引起实验失败的情况,其余实验也都失败。

发明内容

本发明的目的是提供一种并行CT采集系统,该并行CT采集系统能并行采集射线光束中尤其是同步辐射X射线中多个样品的扫描信号以分别供多个CT同时使用。

根据上述发明目的,本发明提出了一种并行CT采集系统,其用于并行采集射线光束中至少两个样品的扫描信号,其中,所述并行CT采集系统包括:

至少两个样品台,所述样品台被设置为用于放置所述样品,且所有所述样品台上放置的样品在所述射线光束的垂直于其入射方向的截面上的投影之间相互不交叠;

至少两个视场的射线探测器系统,所述射线探测器系统通过各所述视场分别对应采集各所述样品的扫描信号。

本发明所述的并行CT采集系统中,由于各所述样品在所述射线光束的垂直于其入射方向的截面上的投影之间相互不交叠,通常相应地所述视场在所述射线光束的垂直于其入射方向的截面上也是不交叠的,各所述样品之间、各所述视场之间可以位于同一水平面,也可以位于不同水平面。

本发明所述的并行CT采集系统使用时,所述样品置于所述射线光束中,各样品使用的射线光束区域相互不交叠,射线光束入射在各样品上生成相应的各扫描信号,所述射线探测器系统通过各所述视场分别对应采集各所述样品的扫描信号。因此,所述并行CT采集系统能并行采集射线光束中尤其是同步辐射X射线中多个样品的扫描信号以分别供多个CT同时使用。由于各样品使用不同区域的射线光束,实验之间互不干扰,成像质量完全一样,即使有一个失败,其余的也可以完成。

进一步地,本发明所述的并行CT采集系统中,所述射线探测器系统包括与各所述视场分别对应的至少两个射线探测器。

上述方案中,一个射线探测器对应一个视场,一个视场对应一个样品的扫描信号,通常各视场之间相互不交叠。

更进一步地,上述并行CT采集系统中,所述射线光束为X射线光束,所述射线探测器包括闪烁体、显微物镜以及面阵探测器,其中:

所述闪烁体被配置为在所述样品的扫描信号的作用下产生相应视场的可见光;

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