[发明专利]一种并行CT采集系统

权利要求书

1.一种并行CT采集系统，其用于并行采集射线光束中至少两个样品的扫描信号，其特征在于，所述并行CT采集系统包括：

至少两个样品台，所述样品台被设置为用于放置所述样品，且所有所述样品台上放置的样品在所述射线光束的垂直于其入射方向的截面上的投影之间相互不交叠；

至少两个视场的射线探测器系统，所述射线探测器系统通过各所述视场分别对应采集各所述样品的扫描信号；所述射线探测器系统包括与各所述视场分别对应的至少两个射线探测器；

所述射线光束为大尺寸矩形的同步辐射X射线光束，其光束尺寸远大于所述射线探测器的视场尺寸；

所述射线探测器包括闪烁体、显微物镜以及面阵探测器，其中：

所述闪烁体被配置为在所述样品的扫描信号的作用下产生相应视场的可见光；

所述显微物镜被配置为将所述相应视场的可见光匹配传输至相应视场的所述面阵探测器；为同时实现并行采集和高分辨率，显微物镜采用长工作距离物镜；

所述面阵探测器被配置为接收相应视场的可见光并将其转换为相应视场的探测信号输出；

所述闪烁体为共用的；所述射线探测器还包括用于将所述闪烁体产生的可见光的光轴方向偏转至所述显微物镜的反射镜，以使得各射线探测器被设置为在空间上互不干扰。

2.如权利要求1所述的并行CT采集系统，其特征在于，所述样品数量为两个，且位于同一水平面上，相应地，所述射线探测器为两个，其中，两个反射镜将两根可见光的光轴分别向两个相反的方向偏转90°，所述两个射线探测器相对位置固定。

3.如权利要求2所述的并行CT采集系统，其特征在于，还包括CT校轴系统，所述CT校轴系统包括分别设于各所述样品台上和所述射线探测器系统上的倾角传感器，其中，两个所述射线探测器共用一个倾角传感器。

4.如权利要求1所述的并行CT采集系统，其特征在于，所述样品数量为三个，且位于同一水平面上，相应地，所述射线探测器为三个，其中，与两侧的两个样品对应的两个射线探测器中，两个反射镜将两根可见光的光轴分别向两个相反的方向偏转90°，与中间的样品对应的射线探测器中，没有反射镜且可见光的光轴方向不变，所述三个射线探测器相对位置固定。

5.如权利要求4所述的并行CT采集系统，其特征在于，还包括CT校轴系统，所述CT校轴系统包括分别设于各所述样品台上和所述射线探测器系统上的倾角传感器，其中，三个所述射线探测器共用一个倾角传感器。

6.如权利要求1-5中任意一项权利要求所述的并行CT采集系统，其特征在于，所述闪烁体为各所述射线探测器共用的表面垂直于所述射线光束入射方向设置的能够在射线作用下产生荧光可见光的超薄晶体。