[发明专利]一种共面电容式聚合物分子取向测量装置及方法

权利要求书

1.一种共面电容式聚合物分子取向测量装置，其特征在于，包括传感器探头阵列(10)、电容测量单元(13)、以及取向计算模块(14)，其中，

所述传感器探头阵列(10)包括设置在绝缘基底(9)上的多组共面电极；

对于任意一组所述共面电极，均包括至少两个导电电极，并且，任意一个所述导电电极均具有条状电极结构；对于同一所述共面电极内的任意两个所述导电电极，它们的条状电极结构相互平行，并且保持固定间距；任意两个所述导电电极之间的电容受待测量聚合物的影响；并且，对于任意一组所述共面电极，定义在所述基底(9)平面上的、且与该共面电极中的条状电极结构相平行的直线为该共面电极的排布直线；

所述电容测量单元(13)与所述传感器探头阵列(10)相连，用于测量同一组所述共面电极内的任意两个所述导电电极之间的电容，并得到与所述多组共面电极相对应的多组电容数据；

所述取向计算模块(14)与所述电容测量单元(13)相连，用于根据所述电容测量单元(13)测量得到的所述多组电容数据计算所述待测量聚合物的分子取向；

此外，所述传感器探头阵列(10)上的所述多组共面电极至少为4组共面电极，以这些共面电极中的4组所述共面电极作为2个共面电极阵列单元，其中，每个所述共面电极阵列单元均包括2组所述共面电极；对于同一个所述共面电极阵列单元中的2组所述共面电极，这2组所述共面电极的排布直线之间的夹角为90°；

对于这2个所述共面电极阵列单元，其中一个阵列单元中任意一组共面电极的排布直线，与另一个阵列单元中的任意一组共面电极的排布直线，这两条直线之间的夹角为45°。

2.如权利要求1所述一种共面电容式聚合物分子取向测量装置，其特征在于，定义所述基底(9)面上的任意一个方向为单位正方向，则对于任意一组所述共面电极，该共面电极的排布直线与该单位正方向之间的夹角为0°～180°。

3.如权利要求1所述一种共面电容式聚合物分子取向测量装置，其特征在于，对于任意一组所述共面电极，该共面电极中的任意一个所述导电电极均包括多个所述条状电极结构，这些条状结构相互平行、且彼此之间通过导电结构相连。

4.如权利要求3所述一种共面电容式聚合物分子取向测量装置，其特征在于，对于任意一组所述共面电极，均包括三个导电电极以及一个基板(4)，记这三个导电电极分别为第一导电电极(1)、第二导电电极(2)、以及第三导电电极(3)；所述第一导电电极(1)、所述第二导电电极(2)、以及所述第三导电电极(3)均位于所述基底(9)的同一面上。

5.如权利要求4所述一种共面电容式聚合物分子取向测量装置，其特征在于，对于任意一组所述共面电极，所述第一导电电极(1)与所述第二导电电极(2)相互交叉分布，该第二导电电极(2)中的任意一个所述条状电极结构距与其相邻的、且属于所述第一导电电极(1)中的条状电极结构的距离保持固定；

所述第三导电电极(3)位于所述第一导电电极(1)与所述第二导电电极(2)之间，该第三导电电极(3)距所述第一导电电极(1)中任意一个条状电极结构的距离保持固定，该第三导电电极(3)距所述第二导电电极(2)中任意一个条状电极结构的距离保持固定；并且，所述第三导电电极(3)距所述第一导电电极(1)中任意一个条状电极结构的距离与所述第三导电电极(3)距所述第二导电电极(2)中任意一个条状电极结构的距离两者不相等。