[发明专利]一种扫描链测试装置及实现方法

说明书

本发明公开了一种扫描链测试装置及实现方法，所述扫描链测试装置，包括扫描链逻辑电路，还包括输入解密模块和输出加密模块，所述输入解密模块用于对输入的加密数据进行解密，将解密后的数据输入至所述扫描链逻辑电路；所述输出加密模块用于对所述扫描链逻辑电路的输出数据进行加密并输出。本发明实施例通过对扫描链测试电路输入和输出的数据进行解密/加密，实现扫描链测试功能正确的同时，也保证了芯片内部数据的安全。而且，本发明实施例能更全面的把集成电路所有内部数据都加入安全保护内，具有更广泛的测试覆盖能力和安全覆盖能力。

技术领域

本发明涉及集成电路可测试设计(DFT)领域，尤指一种扫描链测试装置及实现方法。

背景技术

随着集成电路设计的规模越来越大，同时工艺的尺寸越来越小，不断提升的集成度也提高了生产测试成本和难度，扫描链测试方法作为可测试设计(DFT)中一种重要手段，广泛用于提高芯片质量和成品率。根据扫描链测试原理，可以完成对内部电路的正确性测试时，但也带来了安全性隐患。由于扫描链电路将集成电路内部所有寄存器都串联到一起，通过移位的方法，扫描链输入端可以将任意的数值输送到电路任意一个寄存器，这些输入数据在内部电路完成测试逻辑功能后的响应数据，可以通过扫描链的移位操作到输出引脚被外部监测。这样情况下的集成电路，特别是金融安全类芯片，用于测试的扫描链电路就成为被外部探测内部敏感信息的安全漏洞。

目前其他已有的方案中，第一类是针对集成电路中扫描链的工作模式进行控制，保证外部探测无法使能扫描链进入测试模式，从而让扫描数据不被读写和探测；第二类是针对集成电路内部电路划分安全敏感电路和非安全敏感电路，安全敏感电路部分不进行扫描链测试，从而防止被外部探测。

现有其他技术中，通过对扫描链测试模式进行控制的方法，并未对扫描链中最安全敏感的数据进行保护，如果通过FIB(聚焦离子束，Focused Ionbeam)等方式可以跳过其测试模式的防护时，仍然将数据原始状态全部暴露到外部。同时，由于目前扫描链测试多在第三方工厂，扫描链测试模式方式需要与第三方共享，所以扫描链测试模式方式的保护方式仍然处于非安全状态。而对集成电路内部进行安全划分的方式，会导致了未划分到扫描链上的电路没有进行生产测试的功能分析，也存在进入扫描链的电路处于完全不受保护的状态。

发明内容

为了解决上述技术问题，本发明提供了一种扫描链测试装置及实现方法，可以有效地提高电路安全性能、加固电路内部数据被探测的难度。

为了达到本发明目的，本发明提供了一种扫描链测试装置，包括扫描链逻辑电路，还包括输入解密模块和输出加密模块，其中

所述输入解密模块用于对输入的加密数据进行解密，将解密后的数据输入至所述扫描链逻辑电路；

所述输出加密模块用于对所述扫描链逻辑电路的输出数据进行加密并输出。

可选地，所述扫描链测试装置还包括输入动态密钥模块和输出动态密钥模块，其中

所述输入动态密钥模块与输入解密模块相连，用于生成动态变化的第一动态密钥，将生成的所述第一动态密钥输入至所述输入解密模块，以使所述输入解密模块使用所述第一动态密钥对所述加密数据进行解密；

所述输出动态密钥模块与输出加密模块相连，用于生成动态变化的第二动态密钥，将生成的所述第二动态密钥输入至所述输出加密模块，以使所述输出加密模块使用所述第二动态密钥对所述扫描链逻辑电路的输出数据进行加密并输出。

可选地，所述输入解密模块进一步用于采用对端口重映射进行逆运算和对异或进行逆运算的方式对输入的加密数据进行解密；

所述输出加密模块进一步用于采用异或和端口重映射的方式对所述扫描链逻辑电路的输出数据进行加密并输出。

可选地，所述输入解密模块进一步用于在一个时钟周期内完成解密过程；