[发明专利]一种LCoS相位校准方法及设备有效
申请号: | 201680090538.3 | 申请日: | 2016-11-08 |
公开(公告)号: | CN109891305B | 公开(公告)日: | 2020-11-17 |
发明(设计)人: | 宗良佳;王咪 | 申请(专利权)人: | 华为技术有限公司 |
主分类号: | G02F1/01 | 分类号: | G02F1/01;G02F1/13 |
代理公司: | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人: | 冯艳莲 |
地址: | 518129 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 lcos 相位 校准 方法 设备 | ||
1.一种硅基液晶LCoS相位校准方法,其特征在于,包括:
在LCoS的各个像素点上均加载同一灰度值,获取多次加载的不同灰度值分别对应的相位调制量,得到初始响应关系;
根据所述初始响应关系和所述相位调制量变化周期K对应的目标响应关系,得到初始灰度值对应关系,K为正整数;
根据所述目标响应关系对应的预设灰度值范围确定所述相位调制量变化周期K对应的K个输入灰度值,根据所述初始灰度值对应关系确定所述K个输入灰度值对应的K个输出灰度值;
在相位调制量变化周期K对应的K个像素点上分别加载对应的输出灰度值,获得所述相位调制量变化周期K对应的实际相位调制深度值;
基于所述实际相位调制深度值和所述目标响应关系对应的目标相位调制深度值,确定修正后的相位调制深度值和修正后的目标响应关系;
根据所述初始响应关系和所述修正后的目标响应关系,得到所述相位调制量变化周期K对应的灰度值对应关系。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述目标响应关系中的灰度值与相位调整量为预设的线性变化关系。
3.如权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述初始灰度值对应关系是指任一相同相位调整量下输入灰度值与输出灰度值的对应关系,其中,所述输入灰度值是指所述目标响应关系中的灰度值,所述输出灰度值是指所述初始响应关系中的灰度值。
4.如权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述修正后的相位调制深度值采用如下公式确定:
c=a2/b
其中,c为所述修正后的相位调制深度值,a为所述目标相位调制深度值,b为所述实际相位调制深度值;
所述修正后的目标响应关系是根据所述修正后的相位调制深度值和所述预设灰度值范围确定的。
5.如权利要求1或2所述的方法,其特征在于,在相位调制量变化周期K对应的K个像素点上分别加载对应的输出灰度值,获得所述相位调制量变化周期K对应的实际相位调制深度值,包括:
获得所述K个输出灰度值分别对应的电压值,其中,每个输出灰度值对应一个电压值;
根据所述K个输出灰度值分别对应的电压值,将K个电压值分别对应的电压信号依次加载到所述相位调制量变化周期K对应的K个像素点上;
测量加载电压信号后K个像素点分别对应的相位调制量;
根据所述K个像素点分别对应的相位调整量确定所述相位调制量变化周期K对应的实际相位调制深度值。
6.如权利要求5所述的方法,其特征在于,根据所述K个像素点分别对应的相位调整量确定所述相位调制量变化周期K对应的实际相位调制深度值时,所述实际相位调制深度值采用如下公式确定:
其中,b为所述实际相位调制深度值,P1为所述K个像素点分别对应的相位调整量中的最大值,P2为所述K个像素点分别对应的相位调整量中的最小值。
7.如权利要求1、2、或6所述的方法,其特征在于,所述相位调制量变化周期K对应的灰度值对应关系是指任一相同相位调整量下修正后的输入灰度值与修正后的输出灰度值的对应关系,其中,所述修正后的输入灰度值是指所述修正后的目标响应关系中灰度值,所述输出灰度值是指所述初始响应关系中的灰度值。
8.如权利要求1、2、或6所述的方法,其特征在于,在根据所述初始响应关系和所述修正后的目标响应关系,得到所述相位调制量变化周期K对应的灰度值对应关系后,还包括:
将所述相位调制量变化周期K对应的灰度值对应关系存入所述LCoS的存储区,以使所述LCoS加载相位调制量变化周期K的闪耀光栅时,根据所述相位调制量变化周期K对应的灰度值对应关系,在所述相位调制量变化周期K对应的K个像素点上分别加载对应的修正后的输出灰度值。
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