[发明专利]复合半透膜以及复合半透膜的制造方法有效
申请号: | 201680073610.1 | 申请日: | 2016-12-16 |
公开(公告)号: | CN108472596B | 公开(公告)日: | 2021-10-22 |
发明(设计)人: | 田中宏明;峰原宏树;中辻宏治;木村将弘 | 申请(专利权)人: | 东丽株式会社 |
主分类号: | B01D69/00 | 分类号: | B01D69/00;B01D69/10;B01D69/12;B01D71/56;C02F1/44 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 杨宏军 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 复合 半透膜 以及 制造 方法 | ||
1.复合半透膜,其具备:
具有基材及多孔性支承层的多孔性支承膜;和
设置在所述多孔性支承层上的分离功能层,
其中,所述分离功能层的平均孔半径在0.15nm以上且0.39nm以下的范围内,利用正电子湮没寿命测定法测得的所述分离功能层的孔半径的标准偏差为0.025nm以下。
2.如权利要求1所述的复合半透膜,其中,所述标准偏差为0.020nm以下。
3.如权利要求1所述的复合半透膜,其具备:
具有基材及多孔性支承层的多孔性支承膜;和
设置在所述多孔性支承层上的分离功能层,
其中,利用正电子湮没寿命测定法测得的所述分离功能层的平均孔半径在0.15nm以上且0.39nm以下的范围内,并且孔半径的相对标准偏差为0.089以下。
4.如权利要求1所述的复合半透膜,其中,利用正电子湮没寿命测定法测得的所述分离功能层的最大孔半径与最小孔半径之差为0.13nm以下。
5.如权利要求1所述的复合半透膜,其中,纯水透过系数A和利用正电子湮没寿命测定法测得的平均孔半径R(nm)满足下述关系:A/R4为2.8×10-9m/s/Pa/nm4以上且为4.7×10-9m/s/Pa/nm4以下。
6.如权利要求2~4中任一项所述的复合半透膜,其中,纯水透过系数A与利用正电子湮没寿命测定法测得的平均孔半径R(nm)满足下述关系:A/R4为1.2×10-9m/s/Pa/nm4以上且为5.1×10-9m/s/Pa/nm4以下。
7.如权利要求5所述的复合半透膜,其特征在于,所述复合半透膜具备:
具有基材及多孔性支承层的多孔性支承膜;和
设置在所述多孔性支承层上的分离功能层,
其中,在温度为25℃、相对湿度为97.3%RH的条件下进行平衡化,利用核磁共振法测得的分离功能层中的水的扩散系数在400毫秒以前收敛于10-11m2/秒以上。
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