[发明专利]辐射线检测元件以及辐射线检测装置有效

专利信息
申请号: 201680069630.1 申请日: 2016-11-30
公开(公告)号: CN108307657B 公开(公告)日: 2022-09-23
发明(设计)人: 本村知久;太田浩平;谷森达;高田淳史;竹村泰斗 申请(专利权)人: 大日本印刷株式会社
主分类号: G01T1/18 分类号: G01T1/18;G01T5/00;H01J47/06
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 吴秋明
地址: 日本国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 辐射 检测 元件 以及 装置
【权利要求书】:

1.一种辐射线检测元件,其特征在于,具备多个像素电极,所述像素电极具有:

第1电极,其配置于绝缘构件的第1面,具有开口部;和

第2电极,其配置于所述第1电极的所述开口部,

多个所述像素电极排列在行方向以及列方向上,

在所述行方向以及列方向上,所述像素电极的间距为300μm以下的情况下,所述第1电极与所述第2电极的面积比率是15.9∶1到69.1∶1的范围。

2.根据权利要求1所述的辐射线检测元件,其特征在于,

在所述像素电极的间距为200μm的情况下,所述第1电极与所述第2电极的面积比率是14.5∶1到21.7∶1的范围。

3.一种辐射线检测元件,其特征在于,具备多个像素电极,所述像素电极具有:

第1电极,其配置于绝缘构件的第1面,具有开口部;和

第2电极,其配置于所述第1电极的所述开口部,

多个所述像素电极排列在行方向以及列方向上,

在将P设为像素电极的间距,将C设为第1电极彼此的间隔,将R设为第2电极的半径,将G设为第1电极与第2电极的间隔时,满足200μm≤P≤380μm、10μm≤C、15μm≤R,

在所述行方向以及列方向上,所述像素电极的间距为300μm以下的情况下,所述第1电极与所述第2电极的面积比率是15.9∶1到[(P-C)P-(R+G)2×3.14]/(3.14×R2)∶1的范围。

4.根据权利要求3所述的辐射线检测元件,其特征在于,

在所述像素电极的间距为200μm的情况下,所述第1电极与所述第2电极的面积比率是14.5∶1到[(P-C)P-(R+G)2×3.14]/(3.14×R2)∶1的范围。

5.一种辐射线检测装置,具备权利要求1~4中任一项所述的所述辐射线检测元件。

6.根据权利要求5所述的辐射线检测装置,其特征在于,

分辨率是95μm以下,气体放大率是2000以上。

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