[发明专利]辐射线检测元件以及辐射线检测装置有效
申请号: | 201680069630.1 | 申请日: | 2016-11-30 |
公开(公告)号: | CN108307657B | 公开(公告)日: | 2022-09-23 |
发明(设计)人: | 本村知久;太田浩平;谷森达;高田淳史;竹村泰斗 | 申请(专利权)人: | 大日本印刷株式会社 |
主分类号: | G01T1/18 | 分类号: | G01T1/18;G01T5/00;H01J47/06 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 吴秋明 |
地址: | 日本国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 辐射 检测 元件 以及 装置 | ||
1.一种辐射线检测元件,其特征在于,具备多个像素电极,所述像素电极具有:
第1电极,其配置于绝缘构件的第1面,具有开口部;和
第2电极,其配置于所述第1电极的所述开口部,
多个所述像素电极排列在行方向以及列方向上,
在所述行方向以及列方向上,所述像素电极的间距为300μm以下的情况下,所述第1电极与所述第2电极的面积比率是15.9∶1到69.1∶1的范围。
2.根据权利要求1所述的辐射线检测元件,其特征在于,
在所述像素电极的间距为200μm的情况下,所述第1电极与所述第2电极的面积比率是14.5∶1到21.7∶1的范围。
3.一种辐射线检测元件,其特征在于,具备多个像素电极,所述像素电极具有:
第1电极,其配置于绝缘构件的第1面,具有开口部;和
第2电极,其配置于所述第1电极的所述开口部,
多个所述像素电极排列在行方向以及列方向上,
在将P设为像素电极的间距,将C设为第1电极彼此的间隔,将R设为第2电极的半径,将G设为第1电极与第2电极的间隔时,满足200μm≤P≤380μm、10μm≤C、15μm≤R,
在所述行方向以及列方向上,所述像素电极的间距为300μm以下的情况下,所述第1电极与所述第2电极的面积比率是15.9∶1到[(P-C)P-(R+G)2×3.14]/(3.14×R2)∶1的范围。
4.根据权利要求3所述的辐射线检测元件,其特征在于,
在所述像素电极的间距为200μm的情况下,所述第1电极与所述第2电极的面积比率是14.5∶1到[(P-C)P-(R+G)2×3.14]/(3.14×R2)∶1的范围。
5.一种辐射线检测装置,具备权利要求1~4中任一项所述的所述辐射线检测元件。
6.根据权利要求5所述的辐射线检测装置,其特征在于,
分辨率是95μm以下,气体放大率是2000以上。
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